[发明专利]用于集成电路设计验证的方法、装置、设备以及存储介质

权利要求书

1.一种用于集成电路设计验证的方法，包括：

获取寄存器传输级文件中的第一功能点，其中，所述寄存器传输级文件定义的功能集合包括所述第一功能点和至少一个第二功能点，所述第一功能点为需要验证的功能点，所述至少一个第二功能点为不需要验证的功能点；以及

对所述第一功能点进行错误注入验证，

其中，所述第一功能点为在已有设计目标的寄存器传输级文件的基础上的新增功能点，所述至少一个第二功能点为所述在已有设计目标的寄存器传输级文件中被验证过的功能点；

所述寄存器传输级文件定义的功能集合是基于硬件描述语言将集成电路设计的逻辑器件的功能、参数、性能转化为的多个能够单独验证的功能点的集合。

2.根据权利要求1所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，所述寄存器传输级文件包括对应于所述第一功能点的实现批处理格式的设计代码，

对所述第一功能点进行错误注入验证，包括：

基于所述第一功能点，向对应于所述第一功能点的所述实现批处理格式的设计代码进行错误注入；以及

使用错误注入的所述实现批处理格式的设计代码和测试用例文件对所述第一功能点进行验证；

其中，所述测试用例文件包括对应于所述第一功能点的被标记的测试用例。

3.根据权利要求2所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，获取所述寄存器传输级文件中的所述第一功能点，包括：

查找所述寄存器传输级文件中的实现批处理格式的设计代码，得到对应于所述第一功能点的所述实现批处理格式的设计代码。

4.根据权利要求2或3所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，对所述第一功能点进行错误注入验证之前，包括：

调用所述测试用例文件，其中，所述测试用例文件包括测试用例，所述测试用例中对应于所述第一功能点的测试用例被标记；以及

基于所述寄存器传输级文件对所述测试用例文件的所述测试用例进行覆盖率分析。

5.根据权利要求4所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，使用错误注入的所述实现批处理格式的设计代码和测试用例文件对所述第一功能点进行验证，包括：

查找所述测试用例文件中对应于所述第一功能点的被标记的测试用例；以及

利用测试工具，基于所述被标记的测试用例，对错误注入的所述实现批处理格式的设计代码进行回归测试。

6.根据权利要求5所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，分析所述回归测试的结果，当所述实现批处理格式的设计代码中注入的错误都能够被测试出来时，结束对所述第一功能点的验证。

7.根据权利要求5所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，

当所述实现批处理格式的设计代码中注入的错误其中至少之一没有被测试出来时，增加所述测试用例文件中的测试用例，并修改对应于没有被测试出来的错误的实现批处理格式的设计代码，

再次对增加的测试用例进行覆盖率分析。

8.根据权利要求7所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，基于增加测试用例之后的测试用例文件，再次对所述第一功能点进行错误注入验证，直到注入的错误都能够被测试出来。

9.根据权利要求5所述的用于集成电路设计验证的方法，其中，利用所述测试工具，基于所述被标记的测试用例，对错误注入的所述实现批处理格式的设计代码进行所述回归测试，包括：

根据所述实现批处理格式的设计代码以及所述被标记的测试用例，生成所述测试工具的输入文件，

利用所述测试工具根据所述输入文件对所述错误注入的所述实现批处理格式的设计代码进行所述回归测试。