[发明专利]一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置

权利要求书

1.一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，包括活动腔(1)、传送板(2)、传送带(6)、限位带(7)和固定箱(12)，其特征在于：所述传送板(2)的顶部活动连接有手机壳(3)，所述手机壳(3)的顶部活动连接有压电晶体(4)，所述压电晶体(4)的顶部固定连接有限位杆(5)，所述限位带(7)的内部固定连接有电磁铁一(8)，所述传送带(6)的底部开设有挑选槽(9)，所述挑选槽(9)的顶部活动连接有活动板(10)，所述活动板(10)的内部固定连接有磁块一(11)，所述固定箱(12)的上顶壁固定连接有正极板(13)，所述固定箱(12)的下底壁固定连接有负极板(14)，所述固定箱(12)的右侧内壁固定连接有电磁铁二(15)，所述固定箱(12)的内部开设有活动槽(16)，所述固定箱(12)的左侧内壁固定连接有密封箱(17)，所述密封箱(17)的内部填充有磁流变液(18)，所述密封箱(17)的内部活动连接有活动弹簧(19)，所述活动弹簧(19)的右侧活动连接有活塞(20)，所述活塞(20)的右侧活动连接有电介质板(21)，所述电介质板(21)的右侧固定连接有磁块二(22)。

2.根据权利要求1所述的一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，其特征在于：所述压电晶体(4)为一种非中心对称的晶体。

3.根据权利要求1所述的一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，其特征在于：所述压电晶体(4)与手机壳(3)接触且不产生挤压。

4.根据权利要求1所述的一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，其特征在于：所述活动板(10)的长度大于挑选槽(9)的长度，电磁铁一(8)与磁块一(11)的相对面磁极相反。

5.根据权利要求1所述的一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，其特征在于：所述正极板(13)与负极板(14)的长度相等，且正极板(13)与负极板(14)关于电介质板(21)对称，电介质板(21)的长度大于负极板(14)的长度。

6.根据权利要求1所述的一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，其特征在于：所述磁流变液(18)内部含有高导磁率、低磁滞性的微小软磁性颗粒和非导磁性液体，活塞(20)内部开设有两个通孔。

7.根据权利要求1所述的一种智能手机外壳出厂时平整度的检测装置，其特征在于：所述电磁铁二(15)与磁块二(22)的相对面磁极相同，且电磁铁二(15)与压电晶体(4)电性连接。