[发明专利]检阅报告生成方法、装置、设备和存储介质

说明书

本申请提供一种检阅报告生成方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取验证环境的每个检查项的待检报告信息，并读取所述检查项的上一轮检阅结果，每个所述检查项包括至少一个被测对象；判断所述待检报告信息中，是否具有在所述上一轮检阅结果中被标记为预设标签的目标被测对象；若所述待检报告信息中具有所述目标被测对象，则从所述上一轮检阅结果中提取所述目标被测对象的第一检阅信息；将所述目标被测对象的第一检阅信息合并到所述待检报告信息中，生成所述检查项的当前检阅报告。本申请针对每个检查项提供自动化的脚本，结合当前回归的结果和上一轮检阅后的报告来产生当前的检阅报告，完成自动反标，降低后续检阅工作量，提高检阅效率。

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，具体而言，涉及一种检阅报告生成方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

SOC(System on Chip，系统级芯片)，是由多个具有特定功能的集成电路组合在一个芯片上形成的系统或产品，其中包含完整的硬件系统及其承载的嵌入式软件。

随着信息技术的发展，SOC功能越来越多，规模越来越大，随之与其对应的验证环境也越来越复杂，一般而言会存在不同层级的验证环境，比如最底层的IP环境，中间层的子系统环境以及顶层的SOC环境。每一个验证环境，都会通过不停迭代的回归测试对芯片电路设计进行验证，满足通过率和覆盖率的要求，并在项目后期，按照检查表(Checklist)逐项对验证环境进行检查完成结项，称之为Signoff。验证环境越来越复杂，如何在既定的项目周期内持续地对验证环境的质量进行检查并收敛，以完成最终的Signoff也就显得十分重要。

现有技术方案中，一般是由验证人员对验证环境打上标签(Tag)进行回归，并对回归结果进行分析，根据Checklist逐项检查产生报告，对报告进行人工检阅，并汇总统计得到最终的状态，这就存在以下问题：

对于一个验证环境的检查项，大多都不是检查一次就通过，而是需要根据当前的检查结果进行反复修改直至达到项目质量要求，这个迭代的过程意味着检查是多轮次的，重复工作量很大。由于每一个验证环境的检查项目众多，一个项目通常又有众多的验证环境，通过人工统计的方式获得单个以及总体验证环境在项目不同阶段的质量检查状态，过程繁琐重复，又容易出错，会占据项目管理人员非常多的工作量。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种检阅报告生成方法、装置、设备和存储介质，针对每一个检查项提供自动化的脚本，结合当前回归的结果和上一轮检阅后的报告来产生当前的检阅报告，完成自动反标，降低了后续检阅工作量，提高检阅效率。

本申请实施例第一方面提供了一种检阅报告生成方法，包括：获取验证环境的每个检查项的待检报告信息，并读取所述检查项的上一轮检阅结果，每个所述检查项包括至少一个被测对象；判断所述待检报告信息中，是否具有在所述上一轮检阅结果中被标记为预设标签的目标被测对象；若所述待检报告信息中具有所述目标被测对象，则从所述上一轮检阅结果中提取所述目标被测对象的目标检阅信息；将所述目标被测对象的目标检阅信息合并到所述待检报告信息中，生成所述检查项的当前检阅报告。

于一实施例中，所述预设标签为确认标签；所述目标被测对象为被标记为所述确认标签的第一被测对象；所述方法还包括：若所述待检报告信息中具有所述第一被测对象，则从所述上一轮检阅结果中提取所述第一被测对象的第一检阅信息；将所述第一被测对象的第一检阅信息合并到所述待检报告信息中，生成所述检查项的当前检阅报告。

于一实施例中，所述预设标签为修正标签，所述目标被测对象为被标记为所述修正标签的第二被测对象；所述方法还包括：若所述待检报告信息中具有所述第二被测对象，则从所述上一轮检阅结果中提取所述第二被测对象的第二检阅信息，所述第二检阅信息中去除了上一轮对所述第二被测对象的检阅结论；将所述第二检阅信息合并到所述待检报告信息中，生成所述检查项的当前检阅报告。