[发明专利]工业配件表面缺陷检测方法、系统、智能设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202011527968.1 申请日: 2020-12-22
公开(公告)号: CN112581452A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 钱仪嘉 申请(专利权)人: 钱仪嘉
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/00
代理公司: 北京维正专利代理有限公司 11508 代理人: 赵万凯
地址: 100032 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 工业 配件 表面 缺陷 检测 方法 系统 智能 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:

采集放置在传送带上的工业配件ROI区域图像信息;

对所述图像信息灰度化并进行二值化处理,得到二值化图像信息;

对二值化图像信息进行形态学处理和模型检测,并得到存在缺陷点数量信息和位置信息的目标图像信息;

在缺陷点的数量超过预设的合格标准数后,输出驱动信号以将存在缺陷的工业配件分拣出。

2.根据权利要求1所述的一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,采集工业配件的图像信息时,包括:

在工业配件的同一检测表面以不同的光照角度采集多个图像信息;

将多个图像信息整合成一个图像信息。

3.根据权利要求1所述的一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,通过预先建立的检测模型对图像信息进行检测时,包括:

在工业配件的图像信息上建立坐标系;

定义超过预设灰度值的部分图像信息为缺陷点;

确定缺陷点在坐标系上的坐标。

4.根据权利要求3所述的一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,确定缺陷点在坐标系上的坐标时,包括:

采集缺陷点的大致坐标集合;

定义集合中的某一缺陷像素点作为该缺陷点的坐标。

5.一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,包括:

信息采集模块,用于获取工业配件的图像信息;

信息处理模块,用于对工业配件的图像信息做图像处理,以检测出图像信息中是否存在缺陷点,并根据缺陷点的数量判断出该工业配件是否为合格产品;

分拣模块,用于分拣出不合格的工业配件。

6.根据权利要求5所述的一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,所述信息获取模块包括:

照明单元,用于对工业配件提供照明;

图像采集单元,用于采集工业配件各个光照角度下的图像信息。

7.根据权利要求5所述的一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,所述信息处理模块包括:

图像切分单元,用于将图像信息分隔成像素点;

图像处理单元,用于对图像信息进行灰度化和二值化处理;

缺陷定位单元,用于在图像信息上建立坐标系,并判别出超过预设灰度值部分的图像信息,确定图像信息在坐标系上的坐标;

信号输出单元,在判断出图像信息中存在超过预设标准的缺陷点后,输出驱动信号。

8.根据权利要求5所述的一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,所述分拣模块包括:

驱动单元,连接至信息处理模块,用于接收驱动信号;

分拣装置,连接至驱动单元,根据驱动单元接收的驱动信号分拣出不合格的工业配件。

9.一种智能设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至4中任一种方法的计算机程序。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至4中任一种方法的计算机程序。

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