[发明专利]工业配件表面缺陷检测方法、系统、智能设备和存储介质在审
| 申请号: | 202011527968.1 | 申请日: | 2020-12-22 |
| 公开(公告)号: | CN112581452A | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
| 发明(设计)人: | 钱仪嘉 | 申请(专利权)人: | 钱仪嘉 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 赵万凯 |
| 地址: | 100032 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 工业 配件 表面 缺陷 检测 方法 系统 智能 设备 存储 介质 | ||
1.一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:
采集放置在传送带上的工业配件ROI区域图像信息;
对所述图像信息灰度化并进行二值化处理,得到二值化图像信息;
对二值化图像信息进行形态学处理和模型检测,并得到存在缺陷点数量信息和位置信息的目标图像信息;
在缺陷点的数量超过预设的合格标准数后,输出驱动信号以将存在缺陷的工业配件分拣出。
2.根据权利要求1所述的一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,采集工业配件的图像信息时,包括:
在工业配件的同一检测表面以不同的光照角度采集多个图像信息;
将多个图像信息整合成一个图像信息。
3.根据权利要求1所述的一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,通过预先建立的检测模型对图像信息进行检测时,包括:
在工业配件的图像信息上建立坐标系;
定义超过预设灰度值的部分图像信息为缺陷点;
确定缺陷点在坐标系上的坐标。
4.根据权利要求3所述的一种工业配件表面缺陷检测方法,其特征在于,确定缺陷点在坐标系上的坐标时,包括:
采集缺陷点的大致坐标集合;
定义集合中的某一缺陷像素点作为该缺陷点的坐标。
5.一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,包括:
信息采集模块,用于获取工业配件的图像信息;
信息处理模块,用于对工业配件的图像信息做图像处理,以检测出图像信息中是否存在缺陷点,并根据缺陷点的数量判断出该工业配件是否为合格产品;
分拣模块,用于分拣出不合格的工业配件。
6.根据权利要求5所述的一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,所述信息获取模块包括:
照明单元,用于对工业配件提供照明;
图像采集单元,用于采集工业配件各个光照角度下的图像信息。
7.根据权利要求5所述的一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,所述信息处理模块包括:
图像切分单元,用于将图像信息分隔成像素点;
图像处理单元,用于对图像信息进行灰度化和二值化处理;
缺陷定位单元,用于在图像信息上建立坐标系,并判别出超过预设灰度值部分的图像信息,确定图像信息在坐标系上的坐标;
信号输出单元,在判断出图像信息中存在超过预设标准的缺陷点后,输出驱动信号。
8.根据权利要求5所述的一种工业配件表面缺陷检测系统,其特征在于,所述分拣模块包括:
驱动单元,连接至信息处理模块,用于接收驱动信号;
分拣装置,连接至驱动单元,根据驱动单元接收的驱动信号分拣出不合格的工业配件。
9.一种智能设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至4中任一种方法的计算机程序。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至4中任一种方法的计算机程序。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于钱仪嘉,未经钱仪嘉许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011527968.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种路网分布评估方法、装置及存储介质
- 下一篇:平流式曝气沉砂池气动提砂系统





