[发明专利]镀膜光学镜片检测方法及检测设备

权利要求书

1.一种镀膜光学镜片检测方法，其中，包括：

处理单元在待测镜片上划分多个待测区域；

激光器向每个所述待测区域发射激光；

透过每个所述待测区域的激光经漫反射板形成漫反射；

光电探测器接收经所述漫反射板漫反射后的激光；

处理单元获取所述光电探测器接收的每束激光的检测脉冲数据，并与所述激光透过的待测区域的预设脉冲数据对比；

当检测脉冲数据与预设脉冲数据的差值小于或等于阈值时，则对应的待测区域为合格。

2.根据权利要求1所述的镀膜光学镜片检测方法，其中，所述激光器向每个所述待测区域发射激光包括：

所述激光器发射多束激光，所述多束激光对应所述多个待测区域；

每束激光依次通过扫描振镜系统、平顶光整形器和聚焦系统处理，以使每束激光射向对应的一个所述待测区域。

3.根据权利要求2所述的镀膜光学镜片检测方法，其中，所述激光器发射多束激光包括：激光器依次发射多束激光；

其中，前后发射的两束激光之间间隔的时间为预设时间段；

所述扫描振镜系统具有多个状态，所述多个状态对应所述多束激光；

在每个所述预设时间段内，所述扫描振镜系统调整为对应的一个状态；

每束所述激光通过对应的一个状态下的扫描振镜系统处理；

通过对应的一个状态下的扫描振镜系统处理的激光再通过平顶光整形器和聚焦系统处理，以射向对应的一个所述待测区域。

4.根据权利要求1所述的镀膜光学镜片检测方法，其中，所述检测脉冲数据包括检测脉宽数据和检测波峰数据，所述预设脉冲数据包括预设脉宽数据和预设波峰数据；

所述阈值包括第一阈值和第二阈值；

当所述检测脉宽数据与所述预设脉宽数据的差值小于或等于所述第一阈值，且所述检测波峰数据与所述预设波峰数据的差值小于或等于所述第二阈值时，则对应的所述待测区域为合格。

5.根据权利要求4所述的镀膜光学镜片检测方法，其中，所述激光器发射的激光为高斯光束。

6.根据权利要求1所述的镀膜光学镜片检测方法，其中，所述处理单元获取所述光电探测器接收的激光的检测脉冲数据包括：

所述处理单元通过示波器将所述光电探测器接收的激光处理，以形成检测脉冲数据；

所述处理单元获取所述检测脉冲数据。

7.一种镀膜光学镜片检测设备，其中，包括：处理单元、激光器、漫反射板和光电探测器，所述处理单元与所述激光器以及所述光电探测器电连接；

所述处理单元用于在待测镜片上划分多个待测区域，并用于控制所述激光器向每个所述待测区域发射激光；

所述漫反射板用于对透过每个所述待测区域的激光形成漫反射；

所述光电探测器用于接收经所述漫反射板漫反射后的激光；

所述处理单元用于获取所述光电探测器接收的每束激光的检测脉冲数据，并与所述激光透过的待测区域的预设脉冲数据对比；

当检测脉冲数据与预设脉冲数据的差值小于或等于阈值时，则对应的待测区域为合格。

8.根据权利要求7所述的镀膜光学镜片检测设备，其中，还包括扫描振镜系统、平顶光整形器和聚焦系统；

所述激光器向每个所述待测区域发射的激光依次经过所述扫描振镜系统、所述平顶光整形器和所述聚焦系统处理后射向对应的一个待测区域。

9.根据权利要求8所述的镀膜光学镜片检测设备，其中，所述激光器依次发射多束激光；

其中，前后发射的两束激光之间间隔的时间为预设时间段；

所述扫描振镜系统具有多个状态，所述多个状态对应所述多束激光；

在每个所述预设时间段内，所述扫描振镜系统调整为对应的一个状态；

每束所述激光通过对应的一个状态下的扫描振镜系统处理；

通过对应的一个状态下的扫描振镜系统处理的激光再通过平顶光整形器和聚焦系统处理，以射向对应的一个所述待测区域。