[发明专利]一种天线和无源器件的测量方法

权利要求书

1.一种天线和无源器件的测量方法，其特征在于，所述测量方法采用渐变同轴结构的测试计量装置来实现；

所述测量方法的步骤包括：

S1、将待测器件置于所述测试计量装置内，并将待测器件与接收功率测量仪器连接，用于测量接收功率；

S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接，用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波；

S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器，开始测量；

S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度，或者采用电场探头直接测量该位置的电场强度；

所述待测器件为天线或无源器件或火工品桥丝；

所述渐变同轴结构为双尖端渐变同轴结构；

所述双尖端渐变同轴结构包括两个单尖端渐变同轴结构，两个单尖端渐变同轴结构的内导体与内导体底面相连，外导体与外导体底面相连，两个空气腔相通；所述双尖端渐变同轴结构的一个尖端用作馈入端，另一个尖端设有用于吸波的负载；

所述单尖端渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，以及设于两者之间的空气腔；所述待测器件置于所述空气腔内；

所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质。

2.据权利要求1述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，当待测器件为天线时，所述测量方法的步骤还包括：

S5、根据S4中得到的电场强度和接收功率，计算出待测天线的增益。

3.根据权利要求2所述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，S6、根据S4中得到的电场强度和接收功率，计算出待测天线的天线因子。

4.据权利要求1述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，当待测器件为需测电磁屏蔽效能的无源器件时，所述测量方法的步骤还包括：

根据S4中得到的电场强度和测量出的接收功率，计算出无源器件的电磁屏蔽效能。

5.根据权利要求4所述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，所述无源器件为同轴线缆时，同轴线缆的竖直段与所述测试计量装置的中心轴线平行。

6.根据权利要求1所述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，当待测器件为火工品桥丝时，所述测量方法的内容包括：准备若干相同规格的待测桥丝，逐一进行S1-S4的步骤，直至得到待测桥丝致瞎临界时其所处位置的电场强度；

测量时，保证电磁波照射在当前待测桥丝上的时间达到预设长度。

7.根据权利要求6所述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，测量过程中，第一根待测桥丝的连续波馈入参数根据经验数据确定；从第二根待测桥丝开始，均根据前面待测桥丝的致瞎情况以及连续波馈入参数，调整该待测桥丝的连续波馈入参数。

8.根据权利要求1所述的天线和无源器件的测量方法，其特征在于，所述渐变同轴结构的频率覆盖范围为100MHz-40GHz。