[发明专利]超高检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号: | 202011511169.5 | 申请日: | 2020-12-18 |
| 公开(公告)号: | CN112581449A | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
| 发明(设计)人: | 陈海波;许皓 | 申请(专利权)人: | 深兰科技(上海)有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/70 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 程琛 |
| 地址: | 200336 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超高 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种超高检测方法,其特征在于,包括:
对待检测图像进行目标检测;
若检测到目标,则获取所述目标的目标检测框;
基于所述目标检测框与两条超高检测线段之间的相对位置,判断所述目标是否进入到超高检测区域内;其中,所述两条超高检测线段对应不同的超高检测平面,且两条超高检测线段首尾相连;
若所述目标进入到所述超高检测区域内,且所述目标检测框的质心位于所述两条超高检测线段三个端点构成的三角区域外,则所述目标超高。
2.根据权利要求1所述的超高检测方法,其特征在于,所述基于所述目标检测框与两条超高检测线段之间的相对位置,判断所述目标是否进入到超高检测区域内,具体包括:
基于所述两条超高检测线段上的检测点,确定与所述目标检测框的质心距离最近的参考点;
若所述参考点与所述两条超高检测线段的连接点之间的连线,与所述两条超高检测线段另一侧端点之间的连线不存在交点,则确定所述目标进入到超高检测区域内。
3.根据权利要求2所述的超高检测方法,其特征在于,所述基于所述两条超高检测线段上的检测点,确定与所述目标检测框的质心距离最近的参考点,具体包括:
基于所述两条超高检测线段上的各个检测点在所述待检测图像中的坐标,以及所述待检测图像中各个像素点与所述质心之间的距离,确定所述两条超高检测线段上各个检测点与所述质心之间的距离;
遍历所述两条超高检测线段上各个检测点与所述质心之间的距离,选取最小距离对应的检测点作为所述参考点。
4.根据权利要求3所述的超高检测方法,其特征在于,所述基于所述两条超高检测线段上的各个检测点在所述待检测图像中的坐标,以及所述待检测图像中各个像素点与所述质心之间的距离,确定所述两条超高检测线段上各个检测点与所述质心之间的距离,具体包括:
基于所述待检测图像,以所述质心为中心,建立所述待检测图像对应的热力图;其中,所述热力图中的各个像素点的像素值为所述待检测图像中对应像素点与所述质心之间的距离;
基于所述两条超高检测线段上的各个检测点在所述待检测图像中的坐标,检索所述各个检测点在所述热力图中对应的像素值,得到所述各个检测点与所述质心之间的距离。
5.根据权利要求1至4任一项所述的超高检测方法,其特征在于,所述两条超高检测线段是基于如下步骤确定的:
对摄像头采集的图像进行标识图像检测,获取两个超高检测平面上预先粘贴的多个标识图像在所述摄像头对应的图像坐标系下的位置;
基于所述多个标识图像在所述图像坐标系下的位置,确定所述两条超高检测线段;其中,所述多个标识图像的中心点对应所述两条超高检测线段的端点。
6.一种超高检测装置,其特征在于,包括:
目标检测单元,用于对待检测图像进行目标检测;
检测框获取单元,用于若检测到目标,则获取所述目标的目标检测框;
区域检测单元,用于基于所述目标检测框与两条超高检测线段三个端点构成的三角区域,判断所述目标是否进入到超高检测区域内;其中,所述两条超高检测线段位于不同的超高检测平面,且两条超高检测线段首尾相连;
超高判定单元,用于若所述目标进入到所述超高检测区域内,且所述目标检测框的质心位于所述三角区域外,则所述目标超高。
7.根据权利要求6所述的超高检测装置,其特征在于,所述区域检测单元,具体包括:
参考点确定单元,用于基于所述两条超高检测线段上的检测点,确定与所述目标检测框的质心距离最近的参考点;
区域判定单元,用于若所述参考点与所述两条超高检测线段的连接点之间的连线,与所述两条超高检测线段另一侧端点之间的连线不存在交点,则确定所述目标进入到超高检测区域内。
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