[发明专利]一种碳化硅晶片单向三层双向六级台阶切割工艺有效

专利信息
申请号: 202011509207.3 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112620973B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 郭辉;蒋树庆;胡彦飞 申请(专利权)人: 西安晟光硅研半导体科技有限公司
主分类号: B23K26/38 分类号: B23K26/38;B23K26/402;B23K26/70
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 710005 陕西省西安市国家民用航天产业基*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 碳化硅 晶片 单向 三层 双向 台阶 切割 工艺
【权利要求书】:

1.一种碳化硅晶片单向三层双向六级台阶切割工艺,其特征在于:采用激光和水射流的复合方式进行切割,包括以下步骤:

①选择较大且具有稳定激光束长度在碳化硅晶锭半径以上的激光头;

②从上面在碳化硅晶锭厚度方向的对称位置第1次切割至最深位置;

③随后在左边和右边同样地进行第2次和第3次切割到与第1次相同深度,从而建立起一个相对平缓的多次水射流宽度的面,这个面作为避免水柱干扰的第二深度切割的起始面;

④在中心对称线的左侧采用相同的喷口进行第2层首次切割到其最深深度;

⑤随后在厚度对称轴线的右侧进行第二层的第2次切割,并达到与第2层首次切割的相同深度;

⑥进行第3层首次切割,以达到碳化硅晶锭半径以上深度。

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