[发明专利]超高检测方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种超高检测方法，其特征在于，包括：

对待检测图像进行目标检测；

若检测到目标，则获取所述目标的目标检测框；

基于第一超高检测线段、第二超高检测线段、第三超高检测线段、辅助检测线段，以及所述目标检测框，判断所述目标是否离所述辅助检测线段最近；其中，所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段和所述第三超高检测线段位于不同的超高检测平面，所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段、所述第三超高检测线段以及所述辅助检测线段依次首尾相连；

若所述目标离所述辅助检测线段的距离不是最近的，且所述目标检测框的质心位于所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段、所述第三超高检测线段以及所述辅助检测线段构成的四边形区域外，则所述目标超高；

所述基于第一超高检测线段、第二超高检测线段、第三超高检测线段、辅助检测线段，以及所述目标检测框，判断所述目标是否离所述辅助检测线段最近，具体包括：

基于所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段、所述第三超高检测线段和所述辅助检测线段上的检测点，确定与所述目标检测框的质心距离最近的参考点；

若所述参考点在所述辅助检测线段上，则确定所述目标离所述辅助检测线段最近。

2.根据权利要求1所述的超高检测方法，其特征在于，所述基于所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段、所述第三超高检测线段和所述辅助检测线段上的检测点，确定与所述目标检测框的质心距离最近的参考点，具体包括：

基于所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段、所述第三超高检测线段和所述辅助检测线段上的各个检测点在所述待检测图像中的坐标，以及所述待检测图像中各个像素点与所述质心之间的距离，确定所述各个检测点与所述质心之间的距离；

遍历所述各个检测点与所述质心之间的距离，选取最小距离对应的检测点作为所述参考点。

3.根据权利要求2所述的超高检测方法，其特征在于，所述基于所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段、所述第三超高检测线段和所述辅助检测线段上的各个检测点在所述待检测图像中的坐标，以及所述待检测图像中各个像素点与所述质心之间的距离，确定所述各个检测点与所述质心之间的距离，具体包括：

基于所述待检测图像，以所述质心为中心，建立所述待检测图像对应的热力图；其中，所述热力图中的各个像素点的像素值为所述待检测图像中对应像素点与所述质心之间的距离；

基于所述各个检测点在所述待检测图像中的坐标，检索所述各个检测点在所述热力图中对应的像素值，得到所述各个检测点与所述质心之间的距离。

4.根据权利要求1至3任一项所述的超高检测方法，其特征在于，所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段和所述第三超高检测线段是基于如下步骤确定的：

对摄像头采集的图像进行标识图像检测，获取三个超高检测平面上预先粘贴的多个标识图像在所述摄像头对应的图像坐标系下的位置；

基于所述多个标识图像在所述图像坐标系下的位置，确定所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段和所述第三超高检测线段；其中，所述多个标识图像的中心点对应所述第一超高检测线段、所述第二超高检测线段和所述第三超高检测线段的端点。