[发明专利]一种介观膜表面污染模拟方法有效

专利信息
申请号: 202011499383.3 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112580248B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 褚华强;张亚雷;周雪飞;肖绍赜;孙晶晶 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G06F30/25 分类号: G06F30/25;G16C60/00;G06F119/14;G06F113/08
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 余莹
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 介观膜 表面 污染 模拟 方法
【权利要求书】:

1.一种介观膜表面污染模拟方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1:确定膜分离体系中膜性质、污水性质表征参数以及系统工况参数;

S2:设计膜表面反应体系的几何空间构造,确定涉及模块、计算流程与计算精度,构建模型;

S3:将所有参数输入所构建模型,运算导出膜表面污染过程数据;

S4:代入膜通量计算公式,计算通量变化情况;

S5:可视化输出;

所述S2步骤的几何空间构造包括以下步骤:

1)根据过滤液体中颗粒的粒径分布进行分类,在考虑计算精度的前提下将膜表面空间进行网格划分,设计颗粒在网格空间的运动规则;

2)确定模型中颗粒与膜表面碰撞黏附、不同粒径颗粒出现概率;

所述碰撞粘附计算公式如下:

其中,所述N1为粘附在膜表面颗粒物个数;所述N2为未粘附颗粒个数;所述ΔEb为颗粒粘附能垒;所述ΔEIL为颗粒所受水力拖拽势能;所述β为渗透阻力;所述kb为玻尔兹曼常数;所述J为水通量;所述γ为颗粒粘附概率;所述T为体系温度;

所述不同粒径颗粒出现概率计算公式如下:

Pd=f(d);

其中,所述d为颗粒物粒径;所述Pd为粒径为d的颗粒物出现概率;所述f(x)为颗粒物直径分布函数;

3)根据计算资源与体系实际运行情况设定计算精度与停止条件;

所述S3步骤的模型主体采用动力学蒙特卡罗方法,包括以下步骤:

S31:确定计算格位置与计算时间点;

S32:依次代入模块进行颗粒反应判定,确定该时刻的颗粒状态;

S33:依据颗粒变化更新格状态并更新系统时间;

S34:若满足终止条件则进入后续运算或输出可视化结果,反之则继续重复步骤(1)至(4);

所述S4步骤中,根据所述S3步骤计算所得膜表面污染情况,通过其滤饼性质计算滤饼层阻力,并计算膜通量J;所述滤饼性质包括颗粒性质、污染层厚度和孔隙率:

Rf=αf×mf

其中,所述mf为膜污染质量;所述Cb为膜表面附近颗粒物浓度;所述αf为污染比阻;所述ΔP为跨膜压差;所述μ为流体粘度;所述Rf为滤饼层阻力;所述Rp为膜自身阻力;所述mf为滤饼层质量;所述T为体系温度。

2.根据权利要求1所述的一种介观膜表面污染模拟方法,其特征在于,所述S1步骤通过实验法、经验法或文献法确定膜分离体系中膜性质、污水性质表征参数以及系统工况参数。

3.根据权利要求1所述的一种介观膜表面污染模拟方法,其特征在于,所述参数包括液体性质参数、膜性质参数和系统工况参数;所述液体性质参数包括液体比阻、液体浓度、液体粘度、污染物粒径;所述膜性质参数为膜自身阻力、膜与污染物颗粒间自由能;所述系统工况参数为过滤压力、过滤时间。

4.根据权利要求1所述的一种介观膜表面污染模拟方法,其特征在于,所述S32步骤的颗粒状态为是否碰撞粘附。

5.根据权利要求1所述的一种介观膜表面污染模拟方法,其特征在于,所述S33步骤中的颗粒变化为颗粒空间堆积、压缩情况;所述更新格状态并更新系统时间为:是否循环全部小格,若达到循环全部小格则达到停止条件,若未达到循环全部小格则进入下一格继续重复所述步骤S31-S33。

6.根据权利要求1所述的一种介观膜表面污染模拟方法,其特征在于,所述S5步骤为根据S3、S4计算结果进行可视化输出,输出的数据包括可绘制膜表面污染高程图、泥饼孔隙率随时间变化曲线图和通量变化图。

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