[发明专利]基于近场扫描的芯片表面电磁数据降噪方法在审
申请号: | 202011499241.7 | 申请日: | 2020-12-17 |
公开(公告)号: | CN112561821A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 黄权;邵伟恒;方文啸;王磊;张航;黄云;路国光;阮建高;陈军 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06K7/10 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 付建军 |
地址: | 511370 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 近场 扫描 芯片 表面 电磁 数据 方法 | ||
1.一种基于近场扫描的芯片表面电磁数据降噪方法,其特征在于,包括以下步骤:
通过对芯片表面进行近场扫描得到电磁数据;
对得到的电磁数据进行有用信号提取,得到电磁图像;
对电磁图像进行局部均值估计和局部噪声方差估计;
对电磁图像中的所有相似块的每个像素进行加权平均处理,得到真实图像的基础估计;
使用基础估计对电磁图像进行维纳降噪,得到局部估计;
使用加权平均对所有得到的局部估计进行聚合,计算出真实图像的最终估计,从而得到最终的降噪图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对得到的电磁数据进行有用信号提取,得到电磁图像包括:
对电磁数据的数据矩阵按行方向计算数据矩阵的方差;
将计算出来的方差作为一维向量求方差,得到行方差;
对数据矩阵按列方向计算数据矩阵的方差;
将计算出来的方差作为一维向量求方差,得到列方差;
将行方差和列方差求平均值,得到电磁图像的整体方差;
将得到的电磁图像的整体方差与设定的方差阈值进行比较,提取出有用信号,得到电磁图像。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对电磁图像进行局部均值估计包括:设置一个滑动窗口,该窗口大小不超过整个电磁图像的大小,计算该窗口内所有像素的均值。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,所述对电磁图像进行局部噪声方差估计包括:设置一个滑动窗口,该窗口大小不超过整个电磁图像的大小,逐个像素地在该窗口遍历,计算得到该窗口的局部噪声方差。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,所述对电磁图像中的所有相似块的每个像素进行加权平均处理,得到真实图像的基础估计包括:
对于电磁图像中的每一个块,找到和当前处理的块相似的所有块并堆叠成一个三维数组;
对于形成的分组应用三维变换,通过硬阈值变换系数减弱噪声,再进行三维反变换得到所有分组的块的估计,并将它们返回到最初的位置;
按块对所有获得的块的估计进行加权平均,计算出真实图像的基础估计。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述使用基础估计对电磁图像进行维纳降噪,得到局部估计包括:
对于电磁图像中的每一个块,在基础估计中找到和当前处理的块相似的所有块的位置,形成一个三维数组,然后按照这些位置在电磁图像中找出相似块,同样形成一个三维数组,从而得到两个三维数组;
对两个分组应用三维变换,使用基础估计的能量谱作为真实的能量谱对电磁图像进行维纳降噪,对降噪过的三维系数执行三维反变换得到所有分组的块的估计,并将这些块估计返回到它们原先的位置。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述通过对芯片表面进行近场扫描得到电磁数据包括:
将芯片平整地固定在样品台上,调整探头到芯片表面的距离,设置频谱仪的各项参数,对芯片表面进行近场扫描,导出扫描得到的电磁数据。
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