[发明专利]一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端

说明书

本发明公开了一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端，通过给仿真验证设定循环特征值，系统根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证，相比于传统每次都需要人工手动启动仿真的方式，仿真效率得到极大提高；而且每次循环验证完毕，只需要查看一个包含全部仿真次数的验证信息的仿真日志，无需逐一查看每次仿真生成的仿真日志，使仿真验证的效率进一步提升；可以通过系统自动从仿真日志中获取仿真验证结果，代替人工查看仿真日志，操作简单方便，验证效率高。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，尤其涉及的是一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端。

背景技术

传统数字验证方法通过构建不同验证用例，随机发送激励给待测设计和验证参考模型，通过比对结果判断验证的正确性，然而，有限的随机次数难以覆盖或较慢覆盖验证空间，使验证效率降低，甚至忽视隐藏的设计问题，带来不挽回的损失。而且因为发送激励的随机性，所以如果需要对某一激励进行100次验证，现有方法中只有通过验证人员手动发送100次所述激励进行验证，每验证一次会产生一个仿真日志，验证人员需要手动逐一打开每个仿真日志查看仿真结果，操作繁琐，验证效率低。

因此，现有的技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种提升芯片验证效率的方法、装置、存储介质和终端，旨在解决现有数字验证只能通过人工手动发送激励的方式进行激励循环验证，对于每次验证产生的仿真日志需要人工手动逐一打开查看，操作繁琐，验证效率降低的问题。

本发明的技术方案如下：一种提升芯片验证效率的方法，其中，具体包括以下步骤：

S1：设定仿真验证的循环特征值；

S2：根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；

S4：判断仿真验证的次数是否达到循环特征值，是则跳转至S5，否则跳转至S2；

S5：结束仿真验证并生成仿真日志，根据仿真日志得出仿真验证结果。

所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述仿真日志内包含全部仿真次数中每次仿真后生成的验证信息，所述验证信息包括验证波形、日志、随机种子。

所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述S5中，具体包括以下步骤：

s51：结束仿真验证并生成仿真日志；

s52：读取仿真日志中的验证信息；

s53：根据验证信息查看仿真验证的覆盖率是否达到预设值；

s54：通过查找验证信息中的关键字得出仿真验证失败的随机种子；

s54：根据随机种子得到对应的验证激励。

所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述随机种子与验证激励一一对应，根据随机种子通过映射关系得到对应的验证激励。

所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述s52中，通过程序脚本读取仿真日志中的验证信息。

所述的提升芯片验证效率的方法，其中，所述S2和S4之间还包括以下步骤：

S3：判断仿真验证的覆盖率是否达到预设值，是则跳转至S5；否则跳转至S4。

一种提升芯片验证效率的装置，其中，包括：

循环特征值设置模块，设定仿真验证的循环特征值；

仿真验证模块，根据循环特征值自动对芯片进行循环仿真验证；

判断模块，判断仿真验证的次数是否达到循环特征值；