[发明专利]一种运动平台的校准方法及装置在审
申请号: | 202011487698.6 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN114637335A | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 陈鲁;刘欢敏;贺金龙;李青格乐;张嵩 | 申请(专利权)人: | 深圳中科飞测科技股份有限公司 |
主分类号: | G05D3/12 | 分类号: | G05D3/12;G06T7/70 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 尹秀 |
地址: | 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 运动 平台 校准 方法 装置 | ||
本发明公开了一种运动平台的校准方法及装置,所述运动平台包括特征图案,所述校准方法包括:获取所述特征图案在标定图像中的基准位置,其中,标定图像由所述运动平台运动至预设坐标位置并采集得到;控制运动平台运动至预设坐标位置,并获取特征图案在测试图像中的当前位置;基于基准位置和当前位置之间的位置关系,获取运动平台的偏移信息;基于偏移信息校准运动平台。上述过程中,基于基准位置和当前位置之间的位置关系,获取运动平台的偏移信息;基于偏移信息校准所述运动平台,避免了运动平台受温度、导轨磨损等外部环境影响导致运动平台的预设坐标位置发生偏移,导致包含运动平台的测量设备测量的准确性降低的问题。
技术领域
本发明涉及检测技术领域,尤其涉及一种运动平台的校准方法及装置。
背景技术
通过电机水平运动平台X/Y STAGE以及与其独立悬挂的垂直运动平台(Z STAGE)构建的坐标系在检测领域有一定的应用,例如二维影像仪,三维轮廓度测量仪等。
但是,电机水平运动平台X/Y STAGE受温度、导轨磨损等外部环境影响,运动平台发生偏移,导致包含运动平台的测量设备测量的准确性降低。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种运动平台的校准方法及装置,用以解决运动平台受温度、导轨磨损等外部环境影响,预设坐标位置发生偏移,导致包含运动平台的测量设备测量的准确性降低的问题。具体方案如下:
一种运动平台的校准方法,所述运动平台包括特征图案,所述校准方法包括:
获取所述特征图案在标定图像中的基准位置,其中,所述标定图像由所述运动平台运动至预设坐标位置并采集得到;
控制所述运动平台运动至所述预设坐标位置,并获取所述特征图案在测试图像中的当前位置;
基于所述基准位置和所述当前位置之间的位置关系,获取所述运动平台的偏移信息;
基于所述偏移信息校准所述运动平台。
上述的方法,可选的,所述基准位置为所述特征图案在所述标定图像中的基准像素坐标,所述当前位置为所述特征图案在所述测试图像中的当前像素坐标,基于所述基准位置和所述当前位置之间的位置关系,获取所述运动平台的偏移信息,包括:
分别将所述基准像素坐标转换为基准坐标,将所述当前像素坐标转换为当前坐标,所述基准坐标与所述当前坐标为所述运动平台的物理坐标下的坐标;
计算所述基准坐标和所述当前坐标之间的偏移信息。
上述的方法,可选的,所述当前像素坐标包括:第一当前像素坐标值和第二当前像素坐标值,所述当前坐标包括:第一当前坐标值和第二当前坐标值,将所述当前像素坐标转换为当前坐标,包括:
获取所述标定图像及所述测试图像的放大倍数和尺度因子,其中,所述尺度因子包括:第一尺度因子和第二尺度因子;
基于所述第一当前像素值、所述放大倍数和所述第一尺度因子确定所述第一当前坐标值;
基于所述第二当前像素值、所述放大倍数和所述第二尺度因子确定所述第二当前坐标值;
其中,所述第一当前坐标值和所述第二当前坐标值组成所述当前坐标。
上述的方法,可选的,所述基准位置为基准像素坐标,所述当前位置为当前像素坐标,基于所述基准位置和所述当前位置之间的位置关系,获取所述运动平台的偏移信息,包括:
计算所述基准像素坐标和所述当前像素坐标的图上偏移量;
获取所述标定图像及所述测试图像的放大倍数、尺度因子和像素阵列偏角;
基于所述放大倍数、所述尺度因子、所述像素阵列偏角和所述图上偏移量计算所述偏移信息。
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