[发明专利]一种基于FPGA的高精度DAC测试系统

权利要求书

1.一种基于FPGA的高精度DAC测试系统，其特征在于，包括FPGA开发板、电源、DAC测试板、频谱分析仪、示波器和数字万用表；

所述电源与所述FPGA开发板和所述DAC测试板连接，向其提供稳定电压；所述FPGA开发板向所述DAC测试板发送并行的数字信号和时钟信号，所述DAC测试板将数字信号转换成模拟量输出；

所述DAC测试板分别与所述频谱分析仪、所述示波器和所述数字万用表连接，用于分析输出的模拟量。

2.如权利要求1所述的基于FPGA的高精度DAC测试系统，其特征在于，所述FPGA开发板包括主控制器模块FPGA芯片、稳压电源模块、RAM存储器模块、FLASH存储器模块、有源晶振模块和JTAG接口模块；

所述稳压电源模块分别与主控制器模块FPGA芯片、RAM存储器模块、FLASH存储器模块、有源晶振模块和JTAG接口模块相连；

所述主控制器模块FPGA芯片分别与RAM存储器模块、FLASH存储器模块、有源晶振模块和JTAG接口模块相连。

3.如权利要求2所述的基于FPGA的高精度DAC测试系统，其特征在于，所述主控制器模块FPGA芯片包括数字信号发生器、嵌入式存储器和高速I/O端口；其中，

所述信号发生器包括依次相连的频率寄存器、相位寄存器、正弦ROM查找表和D/A转换器。

4.如权利要求2所述的基于FPGA的高精度DAC测试系统，其特征在于，所述有源晶振模块为50MHz高精度有源晶振模块。