[发明专利]一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法及其装置

权利要求书

1.一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：将发射度测量仪测量的灰度图片进行统计学分析，获得本底噪声，具体步骤如下：

步骤S1：首先在未加束流时，通过发射度测量仪测量一组本底数据；

步骤S2：在加载束流时，通过发射度测量仪测量一组数据；

步骤S3：将步骤S1获得的本底数据与步骤S2获得的数据进行对比，通过统计学分析，获得本底信号，将本底信号作为本底噪声；

步骤2：通过发射度测量仪对待测束流进行实际监测，获得待测束流的原始数据；

步骤3：根据本地噪声，对原始数据进行去除本地噪声的处理，得到滤波后数据；

步骤4：对滤波后数据的电压进行寻峰处理，即，在每个电压下找出电流的最大值，建立峰值数组；

步骤5：对峰值数组进行分析，去除噪声数据点，获得预处理数据；

步骤6：对预处理数据进行中心化处理，使得发射度椭圆的中心在所述预设坐标系的原点，得到中心化的数据；

步骤7：根据中心化的数据，计算发射度。

2.如权利要求1所述的一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法，其特征在于：在执行步骤7时，发射度计算采用阈值法和椭圆排除法结合的方法进行。

3.如权利要求2所述的一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法，其特征在于：所述阈值法为直接选用不同的阈值，对所述中心化的数据中小于阈值的数据均设定为0，其余的不做变化，然后用处理后的数据计算对应的发射度，绘制阈值与发射度的图像，找图像的拐点，拐点对应的发射度就是所述中心化的数据的实际发射度。

4.如权利要求2所述的一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法，其特征在于：椭圆排除法为采用设置边界的方法选取相椭圆，椭圆外的数据置零的方法计算，然后逐步放大椭圆并计算对应的发射度，直到找到拐点，拐点对应的发射度为所述中心化的数据的实际发射度。

5.一种低能质子束的发射度测量仪数据处理装置，其特征在于：包括发射度测量仪，发射度测量仪包括探头(2)和升降平台(1)，升降平台(1)上设有步进电机(4)，步进电机(4)用于控制升降平台(1)进行上下移动；

升降平台(1)上设有探头(2)，升降平台(1)用于带动探头(2)移动；

探头(2)上加载一个偏转电压，探头(2)内设有法拉第筒，用于收集质子。

6.如权利要求5所述的一种低能质子束的发射度测量仪数据处理装置，其特征在于：所述探头(2)设于一个屏蔽盒(3)中。

7.如权利要求6所述的一种低能质子束的发射度测量仪数据处理装置，其特征在于：还包括AD采集设备和PC终端，AD采集设备用于采集所述法拉第筒因质子的轰击而产生的电流信号，AD采集设备与PC终端通信，将所述电流信号变成数字电流信号后，发送给PC终端进行处理。