[发明专利]一种多芯光纤测试方法及装置

权利要求书

1.一种多芯光纤测试方法，其特征在于，包括：

对待测多芯光纤的任意一纤芯注入光功率，记录此时入射端面的图像特征；

对待测多芯光纤的另一纤芯注入光功率，记录此时入射端面的图像特征，通过两次图像特征的比对找出重叠位置，得到光功率注入位置的图像坐标；

依次将待测多芯光纤的各纤芯移动到该图像坐标对应的位置进行光注入完成测试；

其中，对待测多芯光纤的任意一纤芯注入光功率，记录此时入射端面的图像特征，包括：

对待测多芯光纤的任意一纤芯注入光功率，寻找光功率耦合进待测光纤的最佳位置；

使用一个出光口径大于光纤包层的光源照明待测多芯光纤的输出端，使得待测多芯光纤的所有纤芯和包层都在输入端上成清晰像，记录此时入射端面的图像特征，得到各纤芯圆心的第一图像坐标；

其中，对待测多芯光纤的另一纤芯注入光功率，记录此时入射端面的图像特征，包括：

对待测多芯光纤的另一纤芯注入光功率，寻找光功率耦合进待测光纤的最佳位置；

使用一个出光口径大于光纤包层的光源照明待测多芯光纤的输出端，使得待测多芯光纤的所有纤芯和包层都在输入端上成清晰像，记录此时入射端面的图像特征，得到各纤芯圆心的第二图像坐标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对待测多芯光纤中的纤芯注入的光功率需保证入射到待测光纤的光束截面不会同时覆盖到多芯光纤两相邻纤芯。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对待测多芯光纤中的纤芯注入的光功率为将测试光源光纤输出端的发散光线调整的平行光束后的汇聚光束，其中，测试光源光纤为被测光纤同类型的单芯常规光纤。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，寻找光功率耦合进待测光纤的最佳位置，包括：

保持待测多芯光纤输出端静止，调节待测多芯光纤输入端的位置，观察待测多芯光纤输出端，以确保待测多芯光纤有且只有一芯发光；

调节待测多芯光纤输入端的位置，直至探测到的待测多芯光纤输出端的信号最强。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过两次图像特征的比对找出重叠位置，包括：

对比各纤芯圆心的第一图像坐标和各纤芯圆心的第二图像坐标，找出重叠的坐标位置。

6.一种多芯光纤测试装置，其特征在于，包括：光功率注入模块、输入端成像模块、输出端成像模块及处理模块；

通过所述光功率注入模块对待测多芯光纤的任意一纤芯注入光功率，然后通过所述输入端成像模块记录此时入射端面的图像特征；

通过所述光功率注入模块对待测多芯光纤的另一纤芯注入光功率，然后通过所述输出端成像模块记录此时入射端面的图像特征；

所述装置还包括：光信号检测模块；

通过所述光功率注入模块对待测多芯光纤的任意一纤芯注入光功率，通过所述光信号检测模块寻找光功率耦合进待测光纤的最佳位置；

使用一个出光口径大于光纤包层的光源照明待测多芯光纤的输出端，使得待测多芯光纤的所有纤芯和包层都在输入端上成清晰像，通过所述输入端成像模块记录此时入射端面的图像特征，得到各纤芯圆心的第一图像坐标；

通过所述光功率注入模块对待测多芯光纤的另一纤芯注入光功率，通过所述光信号检测模块寻找光功率耦合进待测光纤的最佳位置；

使用一个出光口径大于光纤包层的光源照明待测多芯光纤的输出端，使得待测多芯光纤的所有纤芯和包层都在输入端上成清晰像，通过所述输入端成像模块记录此时入射端面的图像特征，得到各纤芯圆心的第二图像坐标；

通过所述处理模块对两次图像特征进行比对找出重叠位置，得到光功率注入位置的图像坐标，以通过将待测多芯光纤的各纤芯移动到该图像坐标对应的位置进行光注入完成测试。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括输入端反射镜和输出端反射镜；

所述输入端反射镜用于将所述输入端成像模块接入主光路；所述输出端反射镜用于将所述输出端成像模块接入主光路。