[发明专利]一种接触器的寿命监测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种接触器的寿命监测装置，其特征在于，包括：

第一供电回路，用于在第一工作模式下为主控进行供电；

第二供电回路，用于在第二工作模式下为主控进行供电，设置有第一接触器；

控制模块，包括第一检测单元，所述第一检测单元用于在所述第一工作模式下，对所述第一接触器进行激励处理，以确定所述第一接触器的第一性能参数，根据所述第一性能参数与第一阈值，对所述第二供电回路进行监控；所述第一性能参数用于表征所述第一接触器的寿命情况；

所述在第一工作模式下，对第一接触器进行激励处理，以确定所述第一接触器的第一性能参数，包括：

在第一工作模式下，通过激励源输入多个不同的频率和电压对所述第一接触器进行激励；

根据多个所述不同的频率和电压，计算得到所述第一性能参数；

所述根据多个所述不同的频率和电压，计算得到所述第一性能参数，包括：

根据多个所述不同的频率和电压，计算所述第一接触器的等效内阻和等效感抗；

将所述等效内阻和所述等效感抗之间的比值确定为所述第一性能参数。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述控制模块还包括第二检测单元，所述第一供电回路设置有第二接触器，所述第二检测单元用于在所述第一工作模式下，对所述第二接触器进行检测，获取所述第二接触器的第二性能参数，根据所述第二性能参数与第二阈值，对所述第一供电回路进行监控；所述第二性能参数用于表征所述第二接触器的工作状况。

3.一种接触器的寿命监测方法，其特征在于，应用于如权利要求1所述的装置，包括以下步骤：

在第一工作模式下，对第一接触器进行激励处理，以确定所述第一接触器的第一性能参数；所述第一性能参数用于表征所述第一接触器的寿命情况；

根据所述第一性能参数与第一阈值，对第二供电回路进行监控；

所述在第一工作模式下，对第一接触器进行激励处理，以确定所述第一接触器的第一性能参数，包括：

在第一工作模式下，通过激励源输入多个不同的频率和电压对所述第一接触器进行激励；

根据多个所述不同的频率和电压，计算得到所述第一性能参数；

所述根据多个所述不同的频率和电压，计算得到所述第一性能参数，包括：

根据多个所述不同的频率和电压，计算所述第一接触器的等效内阻和等效感抗；

将所述等效内阻和所述等效感抗之间的比值确定为所述第一性能参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：所述根据所述第一性能参数与第一阈值，对第二供电回路进行监控，包括：

当所述第一性能参数小于等于所述第一阈值，切断所述第二供电回路，并将所述第一接触器的信息进行上存。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：第一供电回路包括第二接触器，所述方法还包括：

在所述第一工作模式下，对所述第二接触器进行检测，获取所述第二接触器的第二性能参数；所述第二性能参数用于表征所述第二接触器的工作状况；

根据所述第二性能参数与第二阈值，对所述第一供电回路进行监控。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于：所述根据所述第二性能参数与第二阈值，对所述第一供电回路进行监控，包括：

当所述第二性能参数大于所述第二阈值的第一倍数或者小于所述第二阈值的第二倍数，切断所述第一供电回路，并将工作模式从所述第一工作模式切换至第二工作模式。

7.一种接触器的寿命监测设备，其特征在于，包括处理器以及存储器；

所述存储器存储有程序；

所述处理器执行所述程序以实现如权利要求3-6中任一项所述的方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有程序，所述程序被处理器执行时实现如权利要求3-6中任一项所述的方法。