[发明专利]功耗检测方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质在审
申请号: | 202011467138.4 | 申请日: | 2020-12-14 |
公开(公告)号: | CN112486778A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 王川 | 申请(专利权)人: | OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 郭凤杰 |
地址: | 401120 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功耗 检测 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
本申请涉及一种功耗检测方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质,在通过测试电源对电子设备进行功耗检测时,测试电源可以通过连接通道向电子设备发送的电源切换指令。电子设备在接收到该电源切换指令之后,自动就可以将电子设备的供电方式从由电子设备内的供电电源切换至由测试电源采用连接通路进行供电,并禁止由测试电源向供电电源进行供电。从而,不需要采用拆机的方式就实现了单独由测试电源向电子设备进行供电,并同时禁止由测试电源向供电电源进行供电,所以也避免了电子设备内的供电电源消耗功耗而造成测试电源检测电子设备的功耗不准确的问题。因此,实现了不需要进行拆机,就可以实现便捷地通过测试电源对电子设备进行功耗检测。
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,特别是涉及一种功耗检测方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。
背景技术
在电子设备的研发阶段,需要对电子设备内的各项参数指标进行测试。其中,对电子设备进行功耗检测就是一个必经流程,以满足电子设备的安全运行要求及功耗要求。一般采用外接测试电源来对电子设备进行功耗检测。且传统方法往往需要对电子设备进行拆机以拆除电子设备内的供电电源,而单独将测试电源接入电子设备,并通过测试电源完全对电子设备进行供电,才能实现准确地功耗检测。以避免出现由于电子设备内的供电电源充放电而导致程控电源所检测的功耗不准确的问题。
但是,采用拆机的方式,一方面耗时较长,另一方面可能会损坏电子设备。因此,如何更加便捷地对电子设备的功耗进行测试,就成为当下亟需解决的一个难题。
发明内容
本申请实施例提供了一种功耗检测方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质,可以不需要采用拆机的方式,更加便捷地对电子设备的功耗进行测试。
一种功耗检测方法,应用于电子设备,在所述电子设备与测试电源之间建立连接通道,所述方法包括:
接收所述测试电源通过所述连接通道向所述电子设备发送的电源切换指令;
根据所述电源切换指令,将所述电子设备的供电方式从由所述电子设备内的供电电源切换至由所述测试电源采用所述连接通道进行供电,并禁止由所述测试电源向所述供电电源进行供电;
通过所述测试电源对所述电子设备进行功耗测试。
一种功耗检测装置,应用于电子设备,在所述电子设备与测试电源之间建立连接通道,所述装置包括:
电源切换指令接收模块,用于接收所述测试电源通过所述连接通道向所述电子设备发送的电源切换指令;
供电方式切换模块,用于根据所述电源切换指令,将所述电子设备的供电方式从由所述电子设备内的供电电源切换至由所述测试电源采用所述连接通路进行供电,并禁止由所述测试电源向所述供电电源进行供电;
功耗测试模块,用于通过所述测试电源对所述电子设备进行功耗测试。
一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如上所述的功耗检测方法的步骤。
一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的功耗检测方法的步骤。
上述功耗检测方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质,应用于电子设备,在电子设备与测试电源之间建立连接通道,接收测试电源通过连接通道向电子设备发送的电源切换指令;根据电源切换指令,将电子设备的供电方式从由电子设备内的供电电源切换至由测试电源采用连接通路进行供电,并禁止由测试电源向供电电源进行供电;通过测试电源对电子设备进行功耗测试。
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