[发明专利]一种LED灯全自动测试系统

说明书

本发明公开了一种LED灯全自动测试系统，包括自动测试系统主体与扫码数据存储系统，所述自动测试系统主体包括PCB测试系统、继电器控制系统、MCU系统、电流测试模块、一号可编程程序电源模块、二号可编程程序电源模块、LED采集器模块与中央控制系统，所述PCB测试系统连接有继电器控制系统与MCU系统，所述继电器控制系统连接有中央控制系统，所述MCU系统连接有电流测试模块。本发明所述的一种LED灯全自动测试系统，系统通过继电器切换板与两台四路可编程电源接入PCB测试，PCB测试为二十连片，每连片三路测试，LED采集器可测192个LED灯，流程更加简单方便，LED灯测试可以保证每一个LED的发光是否正常，带来更好的使用前景。

技术领域

本发明涉及LED灯测试领域，特别涉及一种LED灯全自动测试系统。

背景技术

LED灯全自动测试系统是一种进行LED灯测试的支撑设备，在进行LED灯制作的时候需要对LED灯成品进行检测操作，查看其是否合格，防止不良品混入其中，增加合格率，随着科技的不断发展，人们对于LED灯全自动测试系统的制造工艺要求也越来越高。

现有的LED灯全自动测试系统在使用时存在一定的弊端，首先，在进行使用的时候不能很方便的进行测试，流程较为复杂，降低测试效率，不利于人们的使用，还有，在进行测试的时候不能很好的进行检测，数据不能很方便的进行显示，给人们的使用过程带来了一定的不利影响，为此，我们提出一种LED灯全自动测试系统。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种LED灯全自动测试系统，系统通过继电器切换板与两台四路可编程电源接入PCB测试，PCB测试为二十连片，每连片三路测试，LED采集器可测192个LED灯，流程更加简单方便，LED灯测试可以保证每一个LED的发光是否正常，可以有效解决背景技术中的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：一种LED灯全自动测试系统，包括自动测试系统主体与扫码数据存储系统，所述自动测试系统主体包括PCB测试系统、继电器控制系统、MCU系统、电流测试模块、一号可编程程序电源模块、二号可编程程序电源模块、LED采集器模块与中央控制系统，所述PCB测试系统连接有继电器控制系统与MCU系统，所述继电器控制系统连接有中央控制系统，所述MCU系统连接有电流测试模块、一号可编程程序电源模块、二号可编程程序电源模块、LED采集器模块，所述电流测试模块、一号可编程程序电源模块、二号可编程程序电源模块、LED采集器模块连接有中央控制系统。

作为一种优选的技术方案，所述PCB测试系统的输出端与继电器控制系统、MCU系统的输入端电性连接，所述继电器控制系统与中央控制系统之间设置有IO信号传输模块，所述继电器控制系统的输出端通过IO信号传输模块与中央控制系统的输入端无线通讯连接。

作为一种优选的技术方案，所述MCU系统与电流测试模块、一号可编程程序电源模块、二号可编程程序电源模块、LED采集器模块之间双向电性连接，所述电流测试模块、一号可编程程序电源模块、二号可编程程序电源模块、LED采集器模块与中央控制系统之间双向电性连接。

作为一种优选的技术方案，所述扫码数据存储系统包括扫码测试模块、程序控制模块、数据采集模块、数据输入模块、数据存储模块、数据显示模块，所述扫码测试模块连接有程序控制模块，所述程序控制模块连接有数据采集模块，所述数据采集模块连接有数据输入模块，所述数据输入模块连接有数据存储模块，所述数据存储模块连接有数据显示模块。

作为一种优选的技术方案，所述扫码测试模块的输出端与程序控制模块的输入端电性连接，所述程序控制模块的输出端与数据采集模块的输入端电性连接，所述数据采集模块的输出端与数据输入模块的输入端电性连接，所述数据输入模块的输出端与数据存储模块的输入端电性连接，所述数据存储模块的输出端与数据显示模块的输入端电性连接。