[发明专利]一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置

说明书

本发明提供了一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置，包括：主控处理器、按键启动模块、EEPROM存储器写读模块、数据比较模块、结果显示模块、供电模块等。所述主控处理器通过按键启动模块执行电路EEPROM存储器测试命令，所述EEPROM存储器写读模块按照写读时序要求实现EEPROM存储器写读操作，所述数据比较显示模块实现存储器写读结果比较，所述显示模块实现测试结果的显示功能，所述供电模块为整板元器件提供各种的电源电压。该方案可用于实现相控阵雷达驱动控制电路内嵌存储器自动化一键测试功能。

技术领域

本发明涉及一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置，用于进行相控阵雷达驱动控制电路生产过程中电路内嵌EEPROM的自动化写读功能测试，可多工位并行、独立操作，大大提高电路生产测试效率。

背景技术

一般对于相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM的写读测试采用通用测试机台进行测试，需要开发复杂测试程序及向量，测试硬件板卡资源有限，只能进行单只电路测试，而测试时间因写读时序要求而固定，达120秒，需要1人操作，测试效率低。

发明内容

本发明的技术解决的问题是：克服现有技术的不足，不需外部计算机等外围仪器设备，以低成本、高效率为目的提供一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM自动化测试装置，能够实现对相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM进行自动化试写读功能测试，1人可同时操作多台这种测试装置，提高测试效率，节省通用测试机台和人力成本。

本发明的技术解决方案是：一种相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM存储器自动化测试装置，包括主控处理器、按键启动模块、EEPROM存储器写读模块、数据比较模块、结果显示模块、供电模块；

所述主控处理器供电后开始初始化，处于等待启动状态，在待测电路上电后接收按键启动模块的启动信号，对待测电路进行上电连通性检测，确保待测电路在测试插座中正确放置；待测电路进入正常工作模式，主控处理器对内嵌EEPROM进行多次试写回读操作，通过数据比较模块进行自动数据对比，将结果通过结果显示模块进行显示；

所述按键启动模块作为启动主控处理器开始工作的标志，由按键开关及相应信号驱动器件来实现；

所述EEPROM存储器写读模块对相控阵雷达驱动控制电路内嵌EEPROM按照特定时序要求产生写读并行信号，进行写入和回读数据；

所述数据比较模块实现所述试写数据与回读数据的对比，用于验证电路EEPROM功能是否正常，得出测试结果；

所述结果显示模块对测试结果进行无界面显示，通过红、黄、绿三种不同颜色的LED指示灯及信号驱动、电流保护器件来实现，红色表示测试不合格，黄色表示测试中，绿色表示测试合格；

所述供电模块为整板元器件提供各种不同幅值的电源电压，同时本装置具有5V转4.5V、5.5V电路模块，能够对在4.5V、5V、5.5V电压下工作的待测电路进行测试，增加了本测试装置的兼容性。

所述的主控处理器通过按键启动模块接收启动信号，执行测试命令，并根据相应命令依次完成连通性测试、电路初始化配置、EEPROM写入和回读数据对比得出测试结果、向结果显示模块发送测试结果的信号。

所述的按键启动模块由按键开关和相应驱动器件组成，通过按键开关产生一个低脉冲信号，主控处理器接收到这个信号后开启测试工作模式，当完成一次测试过程后，主控处理器进入等待启动信号状态，等待下一个按键启动模块发送的信号。

所述的EEPROM试写回读模块产生并行的写读时序信号，首先对待测电路的EEPROM的全地址进行逐一试写，完成全地址试写后进行回读操作，回读数据送到数据比较模块据进行后续运算处理，由数据比较模块经过数据对比处理得出测试结果，完成对电路EEPROM的试写或回读功能测试。