[发明专利]一种并发系统的内部性能评估方法和系统

权利要求书

1.一种并发系统的内部性能评估方法，其特征在于，包括执行以下步骤：

向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个所述状态位置生成相对应的状态标识；

基于所述并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；

响应于基于所述总采样数运行所述内部性能代码，而在每个所述状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数；

基于每个所述状态位置的所述消耗时间周期、所述本地采样数、和所述内部性能代码的运行频率确定每个所述状态位置的消耗时间；

基于所述消耗时间评估每个所述状态位置的内部性能；

响应于基于所述总采样数运行所述内部性能代码，而在每个所述状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数包括：

将从当前采样开始到所述状态位置的消耗时间周期记为当前时间周期；

将所述总采样数中的所有当前时间周期叠加获得所述消耗时间周期；

将所述总采样数中经历所述状态位置的次数作为所述本地采样数；

基于每个所述状态位置的所述消耗时间周期、所述本地采样数、和所述内部性能代码的运行频率确定每个所述状态位置的消耗时间包括：

基于所述状态位置的所述消耗时间周期与前一状态位置的所述消耗时间周期之差确定所述状态位置的差分消耗时间周期；

基于所述差分消耗时间周期与所述本地采样数之商确定平均消耗时间周期；

基于平均消耗时间周期与所述运行频率之商确定所述状态位置的消耗时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每个所述状态标识是唯一的并且彼此不同。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数包括：

基于所述并发系统的内存储器容量确定上下文位置索引的最大值；

基于内部性能评估的精度需求确定上下文位置索引的最小值；

基于上下文位置索引的最大值和最小值确定所述总采样数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述内部性能代码的所述运行频率为并发系统的处理器工作频率；所述并发系统为固态硬盘存储器。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：在评估每个所述状态位置的内部性能后，还定位所述内部性能低于阈值的所述状态位置以重新执行优化。

6.一种并发系统的内部性能评估系统，其特征在于，包括：

处理器；和

存储器，存储有处理器可运行的程序代码，所述程序代码在被运行时执行以下步骤：

向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个所述状态位置生成相对应的状态标识；

基于所述并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；

响应于基于所述总采样数运行所述内部性能代码，而在每个所述状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数；

基于每个所述状态位置的所述消耗时间周期、所述本地采样数、和所述内部性能代码的运行频率确定每个所述状态位置的消耗时间；

基于所述消耗时间评估每个所述状态位置的内部性能；

响应于基于所述总采样数运行所述内部性能代码，而在每个所述状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数包括：

将从当前采样开始到所述状态位置的消耗时间周期记为当前时间周期；

将所述总采样数中的所有当前时间周期叠加获得所述消耗时间周期；

将所述总采样数中经历所述状态位置的次数作为所述本地采样数；

基于每个所述状态位置的所述消耗时间周期、所述本地采样数、和所述内部性能代码的运行频率确定每个所述状态位置的消耗时间包括：

基于所述状态位置的所述消耗时间周期与前一状态位置的所述消耗时间周期之差确定所述状态位置的差分消耗时间周期；

基于所述差分消耗时间周期与所述本地采样数之商确定平均消耗时间周期；

基于平均消耗时间周期与所述运行频率之商确定所述状态位置的消耗时间。