[发明专利]一种液晶排列取向的检测方法

权利要求书

1.一种液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：建立液晶盒模型，之后对液晶盒用拉曼光谱仪进行检测，根据检测结果判断液晶排列取向变化情况。

2.根据权利要求1所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述液晶盒模型包括依次层叠设置的上基板、液晶层和下基板，所述上基板靠近液晶层侧表面设置有聚酰亚胺层，所述下基板靠近液晶层侧设置有金属纳米光栅层。

3.根据权利要求2所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述上基板的制备方法包括如下步骤：将聚酰亚胺旋涂在导电玻璃上，并摩擦取向，得到所述上基板。

4.根据权利要求2或3所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述下基板的制备方法包括如下步骤：将聚酰亚胺旋涂在导电玻璃上，得到聚酰亚胺层，接着在臭氧环境中用紫外线照射，之后聚酰亚胺层与金属盐前驱体和柠檬酸钠混合溶液接触，并用线偏振光束干涉场照射，得到金属纳米光栅层，于是得到所述下基板。

5.根据权利要求4所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述用紫外线照射的时间为20-30min；

优选地，所述金属盐前驱体包括硝酸银或氯金酸；

优选地，所述金属盐前驱体的浓度为3-7mmol/L；

优选地，所述柠檬酸钠的浓度为3-7mmol/L。

6.根据权利要求4或5所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述线偏振光束干涉场由两束线偏振光构建，所述线偏振光的光源为连续波激光器，所述连续波激光器的发射波长的范围为450-550nm；

优选地，所述两束线偏振光的夹角为85°-90°；

优选地，所述照射的时间为20-30min。

7.根据权利要求2-6中任一项所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述金属纳米光栅的光栅周期为300-600nm。

8.根据权利要求2-7中任一项所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述液晶层的厚度为2-20μm。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述拉曼光谱仪发出的激发波长为532nm、633nm或785nm中任意一种；

优选地，所述拉曼光谱仪的激发功率为50-70μW。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的液晶排列取向的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：建立液晶盒模型，之后对液晶盒用拉曼光谱仪以激发波长为532nm、633nm或785nm、激发功率50-70μW进行检测，采集下基板上的增强拉曼光谱信号，根据检测结果判断液晶排列取向变化情况。