[发明专利]一种主板核心电源的测试系统

说明书

本发明公开了一种主板核心电源的测试系统，对于没有专门的电源测试治具的待测主板，通过转接板将英特尔电源测试治具的电源信号、地信号和控制信号转换为待测主板对应的信号，继而实现通过测试主机基于目前技术成熟的英特尔电源测试治具对国产大电流芯片的核心电源质量进行测试，并通过信号检测器自英特尔电源测试治具获取待测主板的反馈信号，规避了现有国产大电流芯片核心电源测试时只能通过电源输出端进行测试导致无法测得真实的电源质量的问题，且相较于电子负载动态抽载更能够模拟出实际应用场合中的电源负载变化，解决了现阶段由于没有专门测试国产大电流芯片核心电源质量的硬件环境所导致的国产大电流芯片核心电源质量测试不准确的问题。

技术领域

本发明涉及电源测试技术领域，特别是涉及一种主板核心电源的测试系统。

背景技术

为减少甚至摆脱国内对进口芯片的依赖，现今国家越来越重视国产芯片的发展。电源作为芯片正常工作的动力，其质量直接决定芯片能否稳定工作。在对大电流芯片(例如CPU、GPU等)的核心电源进行测试时，由于进口芯片具有成熟和完善的核心电源测试治具和测试规范，目前在国内仍在广泛应用，而国产芯片还未具有专门测试大电流芯片核心电源质量的硬件环境。

图1为现有国产CPU核心电源的测试系统示意图。如图1所示，待测CPU的电源输出端设有电容C和电感L，电感L的第一端连接电源控制器，电感L的第二端连接电容C的第一端和待测CPU的电源输出端，电容C的第二端接地。目前对国产芯片的核心电源进行测试时，通过电子负载101在待测主板的电源输出端(电容C两端)焊接负载来抽载，测试位置也只能在电源输出端，分别测试静态和动态下的电源稳定性。由于电源输出端到待测CPU距离较远，寄生参数复杂，无法测到真实的电源质量，且电子负载动态抽载很慢，无法测到真实的快速负载变化。

在现阶段，如何对国产大电流芯片的核心电源质量进行准确的测试，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种主板核心电源的测试系统，用于解决现阶段由于没有专门测试国产大电流芯片核心电源质量的硬件环境的情况所导致的国产大电流芯片核心电源质量测试不准确的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种主板核心电源的测试系统，包括：转接板，与所述转接板的第一端连接的英特尔电源测试治具，与所述英特尔电源测试治具的信号输出引脚连接的信号检测器以及与所述英特尔电源测试治具的控制端连接的测试主机；

其中，所述转接板的第二端用于连接待测主板，所述转接板用于将所述英特尔电源测试治具的测试信号转换为所述待测主板的测试信号；所述测试信号包括电源信号、地信号和控制信号；

所述测试主机用于控制所述英特尔电源测试治具对所述待测主板的核心电源进行测试；

所述信号检测器用于获取所述待测主板的反馈信号。

可选的，所述转接板具体为四层板卡；

其中，所述转接板的第一层设有与所述英特尔电源测试治具对应连接的第一电源引脚、第一地引脚和第一控制引脚；

所述转接板的第四层设有与所述待测主板对应连接的第二电源引脚、第二地引脚和第二控制引脚；

所述转接板的第二层设有与所述第一电源引脚对应连接的第一电源信号装置，与所述第一地引脚对应连接的第一地信号装置，以及与所述第一控制引脚对应连接的第一控制信号装置；

所述转接板的第三层设有与所述第二电源引脚对应连接的第二电源信号装置，与所述第二地引脚对应连接的第二地信号装置，以及与所述第二控制引脚对应连接的第二控制信号装置；

分别通过电路板导孔，所述第一电源信号装置与所述第二电源信号装置对应连接，所述第二地信号装置与所述第二地信号装置对应连接，所述第一控制信号装置与所述第二控制信号装置对应连接。