[发明专利]一种滚动面缺陷检测系统和方法

权利要求书

1.一种滚动面缺陷检测系统，用于检测滚动面的缺陷，其特征在于：所述滚动面缺陷检测系统包括控制装置、光源发生装置、振镜和识别装置，所述振镜设置在所述光源发生装置与待测滚动面之间的光路上，所述光源发生装置、所述振镜和所述识别装置均与所述控制装置通信连接；

所述光源发生装置发出的光束通过所述振镜的扫描投射到所述待测滚动面上形成条纹，所述控制装置调整所述振镜的驱动信号以调整投射到所述待测滚动面上的条纹位置，所述识别装置拍摄所述待测滚动面获得多幅目标图像并根据多幅所述目标图像检测所述待测滚动面的缺陷。

2.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述光源发生装置进一步包括半导体红外激光器，所述控制装置与所述半导体红外激光器通信连接，所述控制装置对所述半导体红外激光器进行调制以使所述半导体红外激光器产生光强呈周期性发生变化的光束。

3.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述识别装置进一步包括线阵相机，每次拍摄时，所述线阵相机拍摄所述待测滚动面的同一位置，并获得所述振镜从扫描起点扫描到扫描终点时所述待测滚动面的图像。

4.如权利要求2所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述光束的光强随时间呈正弦变化，所述振镜按正弦规律进行扫描。

5.如权利要求2所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述光束为平顶光束。

6.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述滚动面缺陷检测系统进一步包括转动装置，所述待测滚动面置于所述转动装置上。

7.一种滚动面缺陷检测方法，其特征在于：所述方法适用于权利要求1-6任一项所述滚动面缺陷检测系统，所述方法包括以下步骤：

步骤S1，多次获取光束经由振镜扫描后照射到旋转的待测滚动面上的目标图像；

步骤S2，根据所述目标图像获取所述待测滚动面的调制度图；

步骤S3，根据所述调制度图检测所述待测滚动面的缺陷。

8.如权利要求7所述的滚动面缺陷检测的方法，其特征在于：上述步骤S1之前还包括：

步骤Sa，将高斯激光束调整为平顶光束；

步骤S1具体为：改变所述振镜的驱动信号，以获取所述平顶光束经由所述振镜扫描后照射到旋转的所述待测滚动面上的三幅不同的目标图像。

9.如权利要求8所述的滚动面缺陷检测的方法，其特征在于：上述步骤S2具体包括以下步骤：

步骤Sb，基于所述三幅不同的目标图像，通过三步相移算法提取所述待测滚动面的包裹相位信息；

步骤Sc，通过所述包裹相位信息获得所述待测滚动面的调制度图。

10.如权利要求7所述的滚动面缺陷检测的方法，其特征在于：上述步骤S1之后还包括：

步骤Sd，通过卷积神经网络对所述目标图像的散斑噪声进行去噪处理。