[发明专利]一种显示面板的检测方法及显示面板

说明书

本发明实施例涉及一种显示面板的检测方法，包括提供一显示面板，显示面板的非显示区域设置有测试区域。在测设区域设置至少一个测试发光单元，试发光单元包括磊晶结构以及设置在所述磊晶结构一侧的多个测试电极，各个测试电极通过键合金属层与所述测设区域的焊接电极连接。获取多个所述测试发光单元的测试电阻以及与各个所述测试电阻对应的两个测试电极之间的间隔距离，根据测试电阻以及间隔距离获得测试发光单元的接触电阻，本申请可以简单的获得更加准确的接触电阻。

技术领域

本申请涉及一种显示面板检测的技术领域，尤其涉及一种显示面板检测方法以及一种显示面板。

背景技术

相对于有机电激光显示面板件(Organic Light-Emitting Diode，OLED)，Micro-LED在亮度、响应速度、对比度、色彩饱和度上均有着更好的表现。就目前可商业化的Micro-LED而言，Micro-LED显示面板一般包括背板、Micro-LED芯片、以及用于连接背板和Micro-LED芯片的键合层。通过键合层来实现背板和Micro-LED芯片的导通和稳定连接，而是否导通需要根据接触电阻进行判断。

然而在Micro-LED中，因为微型发光二极管晶片厚度太小，无法在键合层两端进行有效的扎针测量电阻，因此如何在Micro-LED显示面板中测量接触电阻值是亟需解决的问题。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种显示面板的检测方法以及一种显示面板，其旨在解决现有技术中存在的在Micro-LED中，因为微型发光二极管晶片尺寸、厚度较小，无法在键合层两端进行有效执行接触电阻值测试的问题。

本申请提供一种显示面板的检测方法，其包括：

提供一显示面板，所述显示面板包括显示区域与围绕所述显示区域设置的非显示区域，所述非显示区域设置有测试区域；

在所述测设区域设置至少一个测试发光单元，所述测试发光单元包括磊晶结构以及设置在所述磊晶结构一侧的多个测试电极，各个所述测试电极通过键合金属层与所述测设区域的焊接电极连接；

获取多个所述测试发光单元的测试电阻，以及与各个所述测试电阻对应的两个所述测试电极之间的间隔距离；

根据所述测试电阻以及与之对应的所述间隔距离，获得所述测试发光单元的接触电阻。

可选地，所述测试发光单元的接触电阻为所述键合金属层与所述测试电极接触产生的第一接触电阻、所述键合金属层的电阻以及所述键合金属层与所述焊接电极接触产生的第二接触电阻之和；

所述测试发光单元的测试电阻包括两倍的所述接触电阻与所述磊晶结构的电阻之和。

可选地，所述测试区域内设置N个所述测试发光单元，所述N大于1；

每一个所述测试发光单元包括两个所述测试电极，且两个所述测试电极之间包括一间隔距离；

在N个所述测试发光单元中，至少两个所述测试发光单元中的所述间隔距离不同。

可选地，在一个所述测试发光单元中，一个所述测试电阻对应一个所述磊晶结构的电阻与两个所述接触电阻。

可选地，所述测试发光单元的接触电阻R满足以下条件：

R＝(R_total1-K*L₁)/2，其中，K＝(R_total2-R_total1)/(L₂-L₁)。