[发明专利]用于实测实量的测量方法及测量系统

权利要求书

1.一种用于实测实量的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

利用扫描装置扫描一目标区域；

根据扫描获得的三维点云数据生成所述目标区域的三维模型；

利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对；

获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据；

其中，所述目标区域为一墙面，所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对，包括：

利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺，所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧，所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域；

获取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型；

所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据，包括：

根据下尺后的靠尺平面与投影区域的模型获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据。

2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述目标区域为一墙面，所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对，包括：

获取所述三维模型的尺寸；

根据所述尺寸获取所述在所述三维模型上的下尺位置及下尺角度；

利用所述下尺位置及下尺角度，在所述三维模型上截取一个形状与所述靠尺平面匹配的截面。

3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据，包括：

将所述截面沿所述靠尺模型的长度方向划分为若干子截面；

获取每一子截面的中心点距离所述靠尺平面的垂直距离；

获取所述垂直距离中的最大值作为所述比对数据的平整度数据。

4.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述获取所述三维模型相对于所述靠尺平面的比对数据，包括：

获取下尺后的靠尺平面与重垂线的夹角作为所述比对数据中的垂直度数据。

5.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述目标区域为一墙面，所述利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置与所述三维模型进行比对，包括：

利用一带有靠尺平面的靠尺模型在所述三维模型上的预设位置下尺，所述下尺为靠尺平面与所述三维模型接触且三维模型上投影区域中的三维点云均处于所述靠尺平面的一侧，所述投影区域为靠尺平面在所述三维模型上的投影区域；

利用一垂直于所述靠尺平面的截面沿所述靠尺模型的长度方向截取下尺后的靠尺平面与投影区域的模型；

根据所述截面与靠尺平面和投影区域的交线获取靠尺平面上的点到三维模型的距离作为所述比对数据。

6.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述目标区域为一房间，所述测量方法包括：

获取所述房间的三维房间模型；

获取所述三维房间模型中两面相对的墙面；

在两个所述墙面上分别获取若干对相互对应的点；

对于一对相互对应的点，获取相互对应的点之间的距离。

7.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括对墙面面积、水平度极差值或阴阳角角度的测量方法，其中，

墙面面积的测量方法包括：

目标区域为一墙面，获取所述墙面的三维模型，根据三维模型的尺寸获取所述墙面的实际面积；

所述水平度极差值的测量方法包括：

目标区域为一房间，获取所述房间的三维房间模型，获取所述三维房间模型中两面相对的墙面，获取两面相对的墙面之间的最大距离和最小距离的差值；

所述阴阳角角度的测量方法包括：

目标区域为一阴阳角，分别获取阴阳角的相交墙体的拟合平面，获取两个拟合平面的夹角作为所述阴阳角的角度。

8.一种用于实测实量的测量系统，其特征在于，所述测量系统用于实现如权利要求1至7中任意一项所述的测量方法。