[发明专利]一种毫米波雷达性能测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种毫米波雷达性能测试装置，其特征在于，包括：

测试平台、设在所述测试平台上的毫米波雷达和测距仪；以及

测试机，与所述毫米波雷达和所述测距仪可进行通信，接收所述毫米波雷达和所述测距仪的测量数据；

其中，所述毫米波雷达和所述测距仪对可移动的被测目标进行测量，并且，所述毫米波雷达和所述测距仪的竖向中心线位于同一垂直平面，且该垂直平面垂直于所述毫米波雷达与所述被测目标之间的连线。

2.根据权利要求1所述的毫米波雷达性能测试装置，其特征在于，

所述被测目标放置于所述毫米波雷达前方的规定标准距离处，沿所述毫米波雷达与所述被测目标的连线方向调整所述测距仪的位置，使所述测距仪与所述毫米波雷达所测量的被测目标的距离相同；

所述被测目标沿所述毫米波雷达与所述被测目标的连线方向匀速前进，直至所述毫米波雷达的探测数据中失去所述被测目标，记录此时所述测距仪测量的所述被测目标的距离d_las；

重复执行n次上述测量过程，最终的所述毫米波雷达的最大测试距离即为d_max＝∑d_las/n，

其中d_max为所述毫米波雷达的最大测试距离，d_las为每次执行上述测量过程时毫米波雷达对被测目标的探测距离。

3.根据权利要求1所述的毫米波雷达性能测试装置，其特征在于，

所述被测目标放置于所述毫米波雷达前方的规定标准距离处，沿所述毫米波雷达与所述被测目标的连线方向调整所述测距仪的位置，使所述测距仪与所述毫米波雷达所测量的被测目标的距离相同；

所述被测目标沿所述毫米波雷达与所述被测目标的连线方向随机移动n次，记录每次测距仪所测距离为d_{las_i}，记录每次毫米波雷达所测距离为d_{rad_i}；

所述测试机按照以下公式计算毫米波雷达的目标距离精度dis_acc：

d_i＝d_{las_i}-d_{rad_i}，

式中i＝(1,2,3,...,n)、d_i为每次执行上述测量过程时测距仪与毫米波雷达对被测目标的探测距离的差值、E(d)为测量n次的d_i的平均值、dis_acc为毫米波雷达的目标距离精度。

4.根据权利要求1所述的毫米波雷达性能测试装置，其特征在于，

在所述毫米波雷达的前方，以所述毫米波雷达为圆心，以规定半径设置一个180°的圆弧，作为角反射器的移动轨迹；

以该圆弧的一端作为起点放置角反射器，并且使所述角反射器以规定角度为步长沿所述圆弧形移动轨迹向另一端移动，直至所述毫米波雷达检测到所述角反射器，记录此时角反射器所在位置的角度值θ₁，其中，所述角反射器初始位置的角度值为0°；

所述角反射器放置在所述圆弧形移动轨迹上角度值为θ₁-规定角度的位置，然后以1°为步长沿所述圆弧形移动轨迹向另一端移动直至所述毫米波雷达检测到所述角反射器，记录此时角反射器所在位置的角度值θ₂；

所述测试机计算所述毫米波雷达的最大探测角θ_max，计算公式为：θ_max＝180°-2θ₂。