[发明专利]一种基于变压器宽频模型的频率响应测试方法及应用有效

专利信息
申请号: 202011385705.1 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN112595998B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 张品佳;陆格野;郑大勇 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R31/62 分类号: G01R31/62;G01R31/72;G01R31/12;G01R31/00;G01R23/02
代理公司: 北京中创云知识产权代理事务所(普通合伙) 11837 代理人: 徐辉
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 变压器 宽频 模型 频率响应 测试 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种基于变压器宽频模型的频率响应测试方法,其特征在于,包括:

根据待测变压器绕组结构确定两侧绕组的层数,形成待测变压器共模宽频电路模型,每层包括绕组电感和绕组电阻形成的串联结构,串联结构两端经接地电容接地并并联匝间电容,层间通过层间电容连接,各个电容并联电阻,不同层之间存在绕组互感;

确定各个扫描频率下的待测变压器共模宽频电路模型各元器件的特性参数;

基于变压器宽频模型计算频率响应曲线;

确定各个扫描频率下的待测变压器共模宽频电路模型各元器件的特性参数,包括:

根据待测变压器两侧绕组导体参数,测量扫描频率下每侧绕组电感和绕组电阻,拟合获得连续频谱下的每侧绕组电阻和绕组电感,计算绕组电阻和每层绕组电感;

根据待测变压器两侧绕组结构参数,在仿真软件中构建2D静电场单相模型,获得每层接地电容、每层匝间电容以及层间电容;

根据各扫描频率下的介电损耗因数计算各个电容的并联电阻;

根据待测变压器两侧绕组结构参数,在仿真软件中构建3D静磁场三相模型,添加共模激励,计算扫描频率下层间的绕组互感;

拟合获得连续频谱下的每侧绕组电阻和绕组电感的拟合公式为:

FRi(f)表示绕组电阻,FLi(f)表示绕组电感,i=1时表示一次侧绕组,i=2时表示二次侧绕组,aRi,bRi,aLi,bLi,cLi是拟合参数,Di是两侧绕组的长度;

根据各扫描频率下的介电损耗因数DF(f)计算各个电容的并联电阻R(f)公式为:

R(f)=1/[2πf·C(f)·DF(f)]

其中C(f)为各个电容,f为扫描频率。

2.根据权利要求1所述的基于变压器宽频模型的频率响应测试方法,其特征在于,基于变压器宽频模型计算频率响应曲线,包括:

在Simulink软件中,构建变压器共模宽频电路模型,给出不同扫描频率下的激励求响应,得到响应曲线。

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