[发明专利]超分辨率扫描成像方法、系统和存储介质

权利要求书

1.一种超分辨率扫描成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

采集第一预设尺寸的微电极扫描预设区域的第一扫描图像；

采集第二预设尺寸的微电极扫描所述预设区域的第二扫描图像；

对所述第一扫描图像和第二扫描图像进行相同区域的图像数量増广，得到训练图像；

采用所述训练图像进行机器学习后确定卷积核；

采集所述第二预设尺寸的微电极扫描的第三扫描图像；

采用所述卷积核对所述第三扫描图像进行反卷积后确定原始扫描图像。

2.根据权利要求1所述的一种超分辨率扫描成像方法，其特征在于，所述对所述第一扫描图像和第二扫描图像进行相同区域的图像数量増广，包括：

对第一扫描图像和第二扫描图像进行相同区域的图像分割；

对分割后的图像进行旋转。

3.根据权利要求1所述的一种超分辨率扫描成像方法，其特征在于，所述采用所述卷积核对所述第三扫描图像进行反卷积后确定原始扫描图像，包括：

采用所述卷积核对所述第三扫描图像进行反卷积，得到第四扫描图像；

对所述第四扫描图像进行滤波处理后确定原始扫描图像。

4.根据权利要求3所述的一种超分辨率扫描成像方法，其特征在于，所述对所述第四扫描图像进行滤波处理，其具体为：

采用插值方式对所述第四扫描图像进行滤波处理。

5.根据权利要求4所述的一种超分辨率扫描成像方法，其特征在于，所述采用插值方式对所述第四扫描图像进行滤波处理，包括：

采用双三次插值方式滤除所述第四扫描图像的高频数据；

采用插值算法滤除所述第四扫描图像的低频数据。

6.根据权利要求1-5任一项所述的一种超分辨率扫描成像方法，其特征在于，所述第一预设尺寸小于所述第二预设尺寸。

7.一种超分辨率扫描成像系统，其特征在于，包括：

第一采集模块，用于采集第一预设尺寸的微电极扫描预设区域的第一扫描图像；

第二采集模块，用于采集第二预设尺寸的微电极扫描所述预设区域的第二扫描图像；

获取模块，用于对所述第一扫描图像和第二扫描图像进行相同区域的图像数量増广，得到训练图像；采用所述训练图像进行机器学习后确定卷积核；

第三采集模块，用于采集所述第二预设尺寸的微电极扫描的第三扫描图像；

确定模块，用于采用所述卷积核对所述第三扫描图像进行反卷积后确定原始扫描图像。

8.一种超分辨率扫描成像系统，其特征在于，包括：

至少一个存储器，用于存储程序；

至少一个处理器，用于加载所述程序以执行如权利要求1-6任一项所述的超分辨率扫描成像方法。

9.一种存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现如权利要求1-6任一项所述的超分辨率扫描成像方法。