[发明专利]一种间接调制出光偏振模式的LED有效
| 申请号: | 202011374729.7 | 申请日: | 2020-11-30 | 
| 公开(公告)号: | CN112510134B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 | 
| 发明(设计)人: | 汪炼成;黄锦鹏 | 申请(专利权)人: | 中南大学 | 
| 主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44;H01L33/00;G02F1/13357 | 
| 代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 周咏;林毓俊 | 
| 地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 间接 调制 偏振 模式 led | ||
1.一种间接调制出光偏振模式的LED,其特征在于,包括LED光源和液晶盒,液晶盒位于LED光源的上方且液晶光轴与LED出射线偏振光方向夹角为45°或135°;所述的LED光源由若干个LED芯片排列组合组成;
在LED光源上加载直流电源后,电子与空穴在LED芯片量子阱层复合发光,产生的光经过LED芯片内部结构谐振、反射后,以线偏振光的形式出射;LED芯片出射的线偏振光经过液晶盒后,光的相位发生0~π/2的相位延迟,相位发生改变,从而使得从液晶盒另一端出射的光的偏振模式发生改变;相位改变量由控制端施加在液晶盒上的电压决定;
所述的LED芯片从上到下,依次为介质膜层、n-GaN层、MQW层、p-GaN层、ITO导电层和光栅层;其中各层宽度关系为:ITO导电层宽度和光栅宽度相等,n-GaN层、MQW层、p-GaN层的宽度相等,p-GaN层宽度小于ITO导电层,介质膜层宽度小于n-GaN层;ITO导电层两端会漏出台面,n-GaN层、MQW层、p-GaN层会漏出两个整齐的侧壁;n-GaN层上也会漏出两个台面;在ITO导电层和n-GaN层漏出的台面,以及n-GaN层、MQW层、p-GaN层侧壁上有一层钝化层;在一侧的钝化层上设有欧姆接触金属层,欧姆接触金属顶部会有部分与n-GaN层漏出的台面接触;
液晶盒从上至下包括,透明电极,液晶材料,透明电极;透明电极与液晶材料接触的一侧上含有一层取向剂层;透明电极之间通过点边框胶连接形成盒体,盒体内填充液晶材料;两个透明电极之间安装控制电路。
2.根据权利要求1所述的间接调制出光偏振模式的LED,其特征在于,所述的LED芯片的制备方法,包括以下步骤:
(1)在衬底上依次生长u-GaN层、n-GaN层、MQW层和p-GaN层,得到LED外延材料;
(2)在步骤(1)中所述p-GaN层表面制备导电层;
(3)在步骤(2)所得导电层制备光栅;
(4)去除步骤(3)所得结构的衬底;
(5)用干法刻蚀去除步骤(4)所得结构的u-GaN层以及部分n-GaN层至设计腔长;
(6)将步骤(5)所得结构刻蚀出芯片台面至导电层;
(7)在步骤(6)所得芯片台面的上表面,n-GaN层、MQW层、p-GaN的侧壁制备钝化层,在n-GaN层上表面除介质膜位置的两侧也制备钝化层,制备好的钝化层的形状呈直角的Z字型;
(8)在步骤(7)所得结构的一侧的钝化层上制备欧姆接触金属,欧姆接触金属上部有部分与n-GaN层上表面相接触;
(9)在步骤(8)所得垂直结构Micro-LED芯片的n-GaN层表面沉积介质膜,
(10)在步骤(9)所得结构经切割后,得到LED芯片。
3.根据权利要求2所述的间接调制出光偏振模式的LED,其特征在于,所述步骤(1)中,衬底为蓝宝石;MQW层是由InGaN层和GaN层交替循环组成;u-GaN层、n-GaN层、MQW层和p-GaN层的制备方法为MOCVD生长;所述步骤(2)中,导电层的材料为氧化铟锡,制备方法为电子束蒸发法;所述步骤(3)中,光栅层的材料为Al,制备方法为激光直写;所述步骤(4)中,衬底的去除方法为激光剥离。
4.根据权利要求2所述的间接调制出光偏振模式的LED,其特征在于,所述步骤(5)中,设计腔长是指腔长为波长的整数倍;所述步骤(6)中,刻蚀后,导电层的宽度是大于u-GaN层、n-GaN层、MQW层和p-GaN层,两侧漏出部分为芯片台面且两侧台面等宽;所述步骤(7)中,钝化层为SiO2,制备方法为化学沉积法;所述步骤(8)中,欧姆接触金属为Au,制备方法为电子束蒸发法;所述步骤(9)中,介质膜为SiO2、Si3N4、TiO2中的一种或多种,制备方法为PECVD沉积。
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