[发明专利]加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本申请提供一种加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质，方法包括：获取针对预设样品在第一条件下，标的变量的多个测试值以及各测试值的时间，建立预设样品在第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型；获取预设样品在第二条件下进行测试期间，标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值时的时间；使用预测模型预测预设样品在第一条件下，标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值的时间；根据第一条件下和第二条件下，第一目标测试值和第二目标测试值的时间，确定第一待测试物理变量的加速系数。这样，通过单批次的样品即可实现对于不同条件下加速系数的确定，解决了现有方式中需要多批次、大样品量测试，成本高的问题。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

目前，集成电路产品在大规模生产之前，都需要接受可靠性测试以验证产品的可用性。

集成电路的可靠性测试是一种加速测试，利用短时间测试来推算长时间使用寿命。但可靠性测试需要知道实际影响产品使用寿命的多个物理变量的加速系数。通常，实际影响集成电路产品使用寿命的物理变量包括诸如电压，温度，湿度等物理变量。

目前常规的加速系数测量方法为：选中多个批次样品，分别进行单个物理变量变化的测试实验(即控制除某一物理变量外的其余所有条件不变，仅改变该物理变量的值的测试实验)，根据各实验结果推测该物理变量对应的加速系数。比如，可以将3个批次的集成电路产品在保持除温度外其余条件相同的情况下，在不同温度下进行测试实验，一定时间后通过这三个测试实验的实验结果，推测出温度加速系数。此外，将另3个批次的集成电路产品在保持除电压外其余条件相同的情况下，在不同电压下进行测试实验，一定时间后通过这三个测试实验的实验结果，推测出电压加速系数。

然而，目前常规的加速系数测量方法必须要多批次，大样品量测试，因此存在成本高的问题。此外，由于必须要多个批次样品，存在样品之间差异造成的不确定性，影响加速系数的准确性。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种加速系数确定方法、装置、电子设备及可读存介质，以实现对于加速系数的确定。

本申请实施例提供了一种加速系数确定方法，包括：获取针对预设样品在第一条件下，标的变量的多个测试值以及各测试值的时间；所述第一条件包括多个物理变量，且各所述物理变量具有设定值；所述标的变量随着测试时间以及所述第一条件中的任一物理变量的值的改变而改变；根据各所述测试值以及各所述测试值的时间，建立所述预设样品在所述第一条件下的标的变量与测试时间的预测模型；获取所述预设样品，在第二条件下进行测试期间，所述标的变量达到第一目标测试值和第二目标测试值时的时间；所述第二条件为改变所述第一条件中第一待测试物理变量的值所得到的条件，所述第一待测试物理变量为所述第一条件中的任一物理变量；使用所述预测模型，预测所述预设样品在所述第一条件下，所述标的变量达到所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间；根据预测得到的所述第一条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间，和测试得到的所述第二条件下所述第一目标测试值和所述第二目标测试值的时间，确定所述第一待测试物理变量的加速系数。