[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202011358649.2 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN112486816A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 李松林 申请(专利权)人: 北京知道未来信息技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F21/57
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 董艳芳
地址: 100082 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质中,该电子设备在预设测试工具生成的测试数据的基础上,对测试数据做进一步的变异,以提高测试数据的变异程度,将提高变异程度后的变异测试数据用于对目标待测系统进行测试。因此,通过上述方式,该变异测试数据的变异程度更高,继而能够提高发现漏洞的概率。

技术领域

本申请涉及软件测试领域,具体而言,涉及一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

模糊测试(Fuzzing),是一种通过向目标待测系统提供非预期的输入,并根据目标待测系统输出的异常结果来发现软件漏洞的方法。

目前,主要通过模糊测试工具生成测试数据,用于测试目标待测系统,然而,目前的模糊测试工具所生成的测试数据,在发掘深层次漏洞时,效果欠佳。

发明内容

第一方面,本申请实施例提供一种测试方法,应用于电子设备,所述方法包括:

获取至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据为预设测试工具基于测试样本的输出结果;

调整所述至少一组测试数据的数据内容和/或数据结构,获得至少一组变异测试数据;

将所述至少一组变异测试数据分别输入至目标待测系统,获得测试结果。

在一种可能的实现方式中,所述调整所述至少一组测试数据的数据内容和/或数据结构,获得至少一组变异测试数据,包括:

针对每组目标测试数据,调整所述目标测试数据中数据内容之间的排列顺序,获得至少一组第一变异数据;其中,所述目标测试数据为所述测试数据中的一部分;

和/或针对每组目标第一数据,将测试字典插入到所述目标第一数据中,获得至少一组第二变异数据,其中,所述测试字典为预先收集的测试数据,所述目标第一数据为所述第一变异数据中的一部分;

和/或针对多组目标第二数据,将所述多组目标第二数据进行数据重组,获得至少一组第三变异数据,其中,所述目标第二数据为所述第二变异数据中的一部分;

将所述至少一组第一变异数据、所述至少一组第二变异数据和/或所述至少一组第三变异数据作为所述至少一组变异测试数据。

在一种可能的实现方式中,所述测试结果包括目标函数的调用记录,所述将所述变异测试数据输入至目标待测系统之前,所述方法还包括:

确定所述目标函数在系统源代码中的位置,其中,所述系统源代码为所述目标待测系统的源代码;

根据所述目标函数的位置,对所述目标函数进行标记。

在一种可能的实现方式中,所述测试结果包括被调用指令的指令数量,所述电子设备记录有历史指令数量,所述方法还包括:

针对每组所述变异测试数据,检测所述变异测试数据对应的指令数量是否大于所述历史指令数量;

若是,则将所述变异测试数据作为测试样本。

在一种可能的实现方式种,所述预设测试工具为Peach模糊测试工具,所述获取至少一组测试数据之前,所述方法还包括:

基于预设的配置文件以及所述测试样本,通过所述Peach模糊测试工具获得所述至少一组测试数据。

第二方面,本申请实施例提供一种测试装置,所述测试装置包括:

数据获取模块,用于获取至少一组测试数据,其中,所述至少一组测试数据为预设测试工具基于测试样本的输出结果;

数据变异模块,用于调整所述至少一组测试数据的数据内容和/或数据结构,获得至少一组变异测试数据;

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