[发明专利]电子部件操作装置、电子部件测试装置以及插座在审

专利信息
申请号: 202011348959.6 申请日: 2020-11-26
公开(公告)号: CN113030599A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 汐田夏基;菊池有朋 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R1/04
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 张黎;王刚
地址: 日本国东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电子 部件 操作 装置 测试 以及 插座
【权利要求书】:

1.一种电子部件操作装置,具备移动单元,该移动单元能够使具有第一天线的被测试电子部件DUT移动,并将所述DUT按压于插座,

所述移动单元具备保持所述DUT的保持部,

所述保持部具有第二天线,该第二天线接收从所述第一天线辐射的电波或向所述第一天线辐射电波。

2.根据权利要求1所述的电子部件操作装置,其中,

所述保持部具有衰减构件,该衰减构件介于所述第一天线和所述第二天线之间,将从所述第一天线或第二天线辐射的电波进行衰减。

3.根据权利要求2所述的电子部件操作装置,其中,

所述第二天线具备通信部,该通信部接收从所述第一天线辐射的电波或向所述第一天线辐射电波,

所述保持部具有筒状部,该筒状部具有与所述DUT对置的开口,并且包围所述通信部,

所述衰减构件以与所述通信部对置的方式设置在所述筒状部的内部。

4.根据权利要求2所述的电子部件操作装置,其中,

所述第二天线具备通信部,该通信部接收从所述第一天线辐射的电波或向所述第一天线辐射电波,

所述保持部具备:

本体部;以及

筒状部,其安装于所述本体部,并具有与所述DUT对置的开口,

所述通信部设置于凹部,所述凹部形成于所述本体部,

所述衰减构件以与所述通信部对置的方式设置于所述本体部的所述凹部,

所述筒状部以包围所述凹部的方式安装于所述本体部。

5.根据权利要求3所述的电子部件操作装置,其中,

所述筒状部以包围所述第一天线的方式与所述DUT抵接。

6.根据权利要求1所述的电子部件操作装置,其中,

所述保持部具备能够传输电波或电信号地与所述第二天线连接的第一连接器,

随着所述移动单元将所述DUT向所述插座进行按压,所述第一连接器能够与测试器所具有的第二连接器连接。

7.根据权利要求6所述的电子部件操作装置,其中,

所述保持部具备检波器,该检波器介于所述第二天线和所述第一连接器之间,能够将RF信号转换为DC信号。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的电子部件操作装置,其中,

所述第二天线是贴片天线,具备:

基板;

辐射元件,其设置在所述基板上;以及

布线图案,其设置在所述基板上,并与所述辐射元件连接。

9.一种电子部件测试装置,具备:

权利要求1至8中任一项所述的电子部件操作装置;以及

测试器,其具备装配有所述插座的测试头,

所述保持部具备能够传输电波或电信号地与所述第二天线连接的第一连接器,

所述测试器具备能够与所述第一连接器连接的第二连接器,

在所述DUT与所述插座电连接并且对所述第一连接器和所述第二连接器进行了连接的状态下,所述测试器通过在所述第一天线与第二天线之间收发电波来测试所述DUT。

10.一种电子部件测试装置,具备测试器,该测试器具备:测试器本体、与所述测试器本体电连接的测试头、以及装配于所述测试头的插座,

所述插座具备:

插座本体,其安装于所述测试头,并且具有与具有第一天线的被测试电子部件DUT电连接的触头;以及

插座盖,其覆盖所述插座本体,将所述DUT按压于所述插座本体,

所述插座盖具有:

第二天线,其设置于与所述插座本体对置的一侧,接收从所述第一天线辐射的电波或向所述第一天线辐射电波;以及

第一连接器,其能够传输电波或电信号地与所述第二天线连接,

所述测试器具有能够与所述第一连接器连接的第二连接器,并且在所述DUT与所述插座电连接并且对所述第一连接器与所述第二连接器进行了连接的状态下,通过在所述第一天线与第二天线之间收发电波来测试所述DUT。

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