[发明专利]工件缺陷检测方法及装置

权利要求书

1.一种工件缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

利用视觉检测机台获取从产线上收集的工件的光学面图像；

核对所述光学面图像上缺陷所在的位置及缺陷区域；

将所述光学面图像输入至缺陷预测模型以获取预测数据，所述预测数据包括所述光学面中各个缺陷的位置及缺陷区域；

将所述核对的缺陷区域以及所述预测数据中的缺陷区域进行对比，将相交区域高于预定阈值的缺陷记为检出，将其他缺陷记为过检；

将检出和过检分别标记于所述光学图像中对应缺陷的位置处，以供人工复核。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用视觉检测机台获取产线上工件的光学面图像之前，所述方法还包括：

根据待检测的缺陷类型，从产线上收集具备所述缺陷类型的工件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述核对所述光学面图像上缺陷所在的位置及缺陷区域，包括：

显示所述光学面图像；

获取在所述光学面图像中选中的包含有缺陷的区域；

在位置输入框中显示所述区域的中心位置，在区域输入框中显示所述区域的区域范围，所述位置输入框和所述区域输入框中的数据允许复核人员更改；

在接收到确定指令时，获取所述位置输入框中的位置数据，以及所述区域输入框中的区域数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将检出标记和过检标记分别标记于所述光学图像中对应缺陷的位置处，以供人工复核之后，所述方法还包括：

根据所述光学图像中的标记以及实际缺陷情况，更改检测规则；

利用所述更改后的检测规则更新所述缺陷预测模型。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷预测模型被配置为识别光学面中的所有缺陷，输出以不漏检为目标的预测数据。

6.一种工件缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于利用视觉检测机台获取从产线上收集的工件的光学面图像；

核对模块，用于核对所述光学面图像上缺陷所在的位置及缺陷区域；

第二获取模块，用于将所述第一获取模块获取到的光学面图像输入至缺陷预测模型以获取预测数据，所述预测数据包括所述光学面中各个缺陷的位置及缺陷区域；

对比模块，用于将所述核对的缺陷区域以及所述预测数据中的缺陷区域进行对比，将相交区域高于预定阈值的缺陷记为检出，将其他缺陷记为过检；

标记模块，用于将所述对比模块得出的检出和过检分别标记于所述光学图像中对应缺陷的位置处，以供人工复核。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

收集模块，用于根据待检测的缺陷类型，从产线上收集具备所述缺陷类型的工件。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述核对模块还用于：

显示所述光学面图像；

获取在所述光学面图像中选中的包含有缺陷的区域；

在位置输入框中显示所述区域的中心位置,在区域输入框中显示所述区域的区域范围，所述位置输入框和所述区域输入框中的数据允许复核人员更改；

在接收到确定指令时，获取所述位置输入框中的位置数据，以及所述区域输入框中的区域数据。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

更改模块，用于根据所述光学图像中的标记以及实际缺陷情况，更改检测规则；

更新模块，用于利用所述更改后的检测规则更新所述缺陷预测模型。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述缺陷预测模型被配置为识别光学面中的所有缺陷，输出以不漏检为目标的预测数据。