[发明专利]孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法及装置在审
申请号: | 202011334669.6 | 申请日: | 2020-11-25 |
公开(公告)号: | CN114549279A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 李昌;沈安江;斯春松;田瀚;李林;陈薇 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G06T3/00 | 分类号: | G06T3/00;E21B47/00;E21B49/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 薛平;周晓飞 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 孔隙 孔洞 碳酸盐 岩储层 非均质性 预测 方法 装置 | ||
1.一种孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法,其特征在于,包括:
获取待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的电成像测井灰度图像;
对电成像测井灰度图像进行插值处理,得到全井眼覆盖的电成像测井灰度图像;
将全井眼覆盖的电成像测井灰度图像转化为孔隙-孔洞分布的二值图像;
对孔隙-孔洞分布的二值图像进行数字图像处理,得到孔隙-孔洞的面孔隙度、圆度及孔隙纵横比参数;
根据孔隙-孔洞的面孔隙度、圆度及孔隙纵横比参数,以及预先建立的非均质性预测模型,确定非均质性系数;根据非均质性系数,确定待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性。
2.如权利要求1所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法,其特征在于,获取待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的电成像测井灰度图像,包括:
利用地层微电阻率扫描成像FMI电阻率成像测井仪,对待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层进行电成像测井,获取待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的电成像测井灰度图像。
3.如权利要求1所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法,其特征在于,根据孔隙-孔洞的面孔隙度、圆度及孔隙纵横比参数,以及预先建立的非均质性预测模型,确定非均质性系数,包括:按照如下非均质性预测模型确定非均质性系数:
其中:T为非均质性系数,φm为电成像测井图像面孔隙度值,RD为电成像测井图像孔隙-孔洞圆度,AR为电成像测井孔隙纵横比参数值。
4.如权利要求1所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法,其特征在于,将全井眼覆盖的电成像测井灰度图像转化为孔隙-孔洞分布的二值图像,包括:根据预设的分割值,以及电成像测井灰度图像中每一像素的灰度值,将所述灰度值图像转化为二值图像。
5.如权利要求4所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法,其特征在于,所述分割值的取值范围是:28至32。
6.如权利要求5所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测方法,其特征在于,所述分割值的取值为:30。
7.一种孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的电成像测井灰度图像;
插值处理单元,用于对电成像测井灰度图像进行插值处理,得到全井眼覆盖的电成像测井灰度图像;
二值化处理单元,用于将全井眼覆盖的电成像测井灰度图像转化为孔隙-孔洞分布的二值图像;
图像处理单元,用于对孔隙-孔洞分布的二值图像进行数字图像处理,得到孔隙-孔洞的面孔隙度、圆度及孔隙纵横比参数;
预测单元,用于根据孔隙-孔洞的面孔隙度、圆度及孔隙纵横比参数,以及预先建立的非均质性预测模型,确定非均质性系数;根据非均质性系数,确定待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性。
8.如权利要求7所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测装置,其特征在于,所述获取单元具体用于:利用地层微电阻率扫描成像FMI电阻率成像测井仪,对待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层进行电成像测井,获取待预测孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的电成像测井灰度图像。
9.如权利要求7所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测装置,其特征在于,所述预测单元具体用于:按照如下非均质性预测模型确定非均质性系数:
其中:T为非均质性系数,φm为电成像测井图像面孔隙度值,RD为电成像测井图像孔隙-孔洞圆度,AR为电成像测井孔隙纵横比参数值。
10.如权利要求7所述的孔隙-孔洞型碳酸盐岩储层的非均质性预测装置,其特征在于,所述二值化处理单元具体用于:根据预设的分割值,以及电成像测井灰度图像中每一像素的灰度值,将所述灰度值图像转化为二值图像。
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