[发明专利]背照式图像传感器及其制造方法在审
| 申请号: | 202011333842.0 | 申请日: | 2020-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN112349742A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
| 发明(设计)人: | 李振亚;王鹏;高尚;熊子遥 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
| 地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 背照式 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,所述方法包括:
提供衬底;
在所述衬底上形成金属材料层;
对所述金属材料层执行离子轰击工艺去除至少部分所述金属材料层顶表面凸起的金属晶粒;
刻蚀所述金属材料层以形成金属栅格层。
2.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,所述离子轰击工艺中用于轰击所述金属材料层的离子为惰性元素离子和/或氮离子。
3.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,对所述金属材料层执行离子轰击工艺的方法包括:
将形成有所述金属材料层的衬底置于一工艺腔室中,并向所述工艺腔室内通入待解离气体,对位于所述工艺腔室内的解离电极通电,以使所述待解离气体解离以生成用于轰击所述金属材料层的离子;以及,
在使所述待解离气体解离的同时,对所述工艺腔室中的离子加速电极通电,以使所述离子朝向所述金属材料层加速运动,以轰击所述金属材料层。
4.如权利要求3所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,对所述解离电极通电的第一供电器的功率为320W~540W,频率为1.5~2.5MHz。
5.如权利要求3所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,对所述离子加速电极通电的第二供电器的功率为:180W~320W,频率为1.5~2.5MHz。
6.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,执行所述离子轰击工艺的时间为:20s~120s。
7.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,在所述衬底上形成所述金属材料层,以及对所述金属材料层执行离子轰击工艺在同一工艺腔室中进行。
8.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,执行所述离子轰击工艺之后的所述金属材料层表面的最高点和最低点的高度差小于等于100nm。
9.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,在所述衬底上形成金属材料层的方法为化学气相沉积法。
10.如权利要求1所述的背照式图像传感器的制造方法,其特征在于,在对所述金属材料层执行离子轰击工艺之前,所述方法还包括:对形成有金属材料层的衬底进行加热,所述加热温度为:150℃-200℃,加热时间为30s~60s。
11.一种背照式图像传感器,其特征在于,所述背照式图像传感器根据如上述权利要求1~10任意一项所述的背照式图像传感器的制造方法制备而成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





