[发明专利]非易失性存储器的试错表的生成方法及装置

权利要求书

1.一种非易失性存储器的试错表的生成方法，其特征在于，包括：

获取导致非易失性存储器的读数据出错的环境变量；

确定所述环境变量的定量描述数值，所述定量描述数值用于通过精确的数据描述所述环境变量；

分别在不同的所述环境变量的定量描述数值下，读取所述非易失性存储器的数据；

依据从所述非易失性存储器读取的数据生成所述非易失性存储器的试错表。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述环境变量至少包括：所述非易失性存储器使用环境的外界温度、所述非易失性存储器的数据保存时间是否达到预设期限、所述非易失性存储器的擦写次数、从所述非易失性存储器读取的数据的当前温度、所述非易失性存储器的字线层数以及所述非易失性存储器的电压状态。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定所述环境变量的定量描述数值，包括：

按照第一预设间隔区间将所述非易失性存储器使用温度范围划分为多个温度区间，在每个温度区间中分别为所述非易失性存储器使用环境的外界温度和从所述非易失性存储器读取的数据的当前温度设定一个测量值，将所述测量值作为所述非易失性存储器使用环境的外界温度和从所述非易失性存储器读取的数据的当前温度的定量描述数值；

按照第二预设间隔区间将所述非易失性存储器的最大擦写次数划分为多个擦写次数区间，在每个擦写次数区间中统计一个所述非易失性存储器的擦写次数的定量描述数值；

按照第三预设间隔区间将所述非易失性存储器的字线层数划分为多个字线层数区间，在每个字线层数区间中统计一个所述非易失性存储器的字线层数的定量描述数值；

用真和假两个布尔类型的值作为所述非易失性存储器的数据保存时间是否达到预设期限的定量描述数值；

设定预设数量需要校准的电压点作为所述非易失性存储器的电压状态的定量描述数值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分别在不同的所述环境变量的定量描述数值下，读取所述非易失性存储器的数据，包括：

步骤S1，分别在不同的所述定量描述数值下，向所述非易失性存储器发送读命令，以读取所述非易失性存储器的数据；

步骤S2，如果所述数据中存在通过错误检查与纠正技术纠正回来的数据，观察所述纠正回来数据的原始错误比特数，从所述纠正回来数据中选择原始错误比特数最小的数据作为当前环境变量对应的试错值，所述试错值用于对所述数据中的出错数据进行纠正处理时代替所述出错数据；

步骤S3，如果所述数据中不存在通过所述错误检查与纠正技术纠正回来的数据，放弃本次尝试。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，分别在不同的所述环境变量的定量描述数值下，读取所述非易失性存储器的数据，还包括：

重复执行步骤S1至步骤S3预设次数，得到每个所述环境变量对应的预设数量的试错值，其中，所述预设数量与所述预设次数相同。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，依据从所述非易失性存储器读取的数据生成所述非易失性存储器的试错表，包括：

基于模糊C均值-聚类算法对每个所述环境变量对应的预设数量的试错值进行处理，得到每个所述环境变量对应的最优试错值；

依据每个所述环境变量对应的最优试错值生成所述非易失性存储器的试错表，其中，所述试错表中存储有每个所述环境变量的定量描述数值与每个所述环境变量对应的最优试错值之间的对应关系。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，依据从所述非易失性存储器读取的数据生成所述非易失性存储器的试错表之后，上述方法还包括：

如果所述非易失性存储器无法通过所述错误检查与纠正技术纠正出错数据，确定所述非易失性存储器当前的环境变量；

通过所述非易失性存储器当前的环境变量的定量描述数值从所述试错表中查找所述当前的环境变量对应的最优试错值；

基于所述最优试错值对所述非易失性存储器的出错数据进行纠错处理。