[发明专利]一种随机数双比特检验的优化实现方法及其装置

权利要求书

1.一种随机数双比特检验的优化实现方法，该优化实现方法包括有以下步骤，建立查找表，输入字节形式待检序列及显著性水平α，初始化比特串“00”、“01”、“10”、“11”的个数计数器，查表法统计频数，修正频数，计算1比特频数，计算统计量V，计算P值，判定检验结果，其特征在于：查表法统计频数时，对待检字节序列进行分段，即将当前待检字节的低5个比特(Z0、Z1、Z2、Z3、Z4)为一段，当前待检字节的高4个比特(Z4、Z5、Z6、Z7)及随后待检字节的最低1比特(Z8)为一段，并以此类推，将待检字节序列划分为若干段，并利用四个不同的查找表来统计频数，所述四个不同的查找表，即T₀₀、T₀₁、T₁₀、T₁₁，每一个表都含2^w+1个元素，w为单次处理数据的比特宽度，w取4，对于待查表值x，这里0≤x≤2^w+1-1，即x由w+1比特表示，

T₀₀[x]表示x中有多少次连续2比特为“00”；

T₀₁[x]表示x中有多少次连续2比特为“01”；

T₁₀[x]表示x中有多少次连续2比特为“10”；

T₁₁[x]表示x中有多少次连续2比特为“11”。

2.根据权利要求1所述的一种随机数双比特检验的优化实现方法，其特征在于：该优化实现方法检验字节序列步骤如下：

首先预处理，建立四个不同的查找表，即T₀₀、T₀₁、T₁₀、T₁₁，每一个表都含2^w+1个元素，w为单次处理数据的比特宽度，w取4，对于待查表值x，这里0≤x≤2^w+1-1，即x由w+1比特表示，

T₀₀[x]表示x中有多少次连续2比特为“00”；

T₀₁[x]表示x中有多少次连续2比特为“01”；

T₁₀[x]表示x中有多少次连续2比特为“10”；

T₁₁[x]表示x中有多少次连续2比特为“11”；

所述四张查找表中内容可以固化在非易失存储器，供查找调用；

步骤S00，输入以字节形式表示的待检序列B＝B₀,B₁,…,B_N-1，n＝8N，和阈值，即显著性水平α；

步骤S01，初始化：

初始化比特串“00”、“01”、“10”、“11”的个数计数器n₀₀、n₀₁、n₁₀、n₁₁，即执行n₀₀←0，n₀₁←0，n₁₀←0，n₁₁←0；

步骤S02，利用分段查表法统计频数：

For i＝0,1,2,…,N-1执行

(1)取2个w+1比特待查表数据

x_L←LSB(B_i,5)

x_H←LSB((B_i+1||B_i)4,5)

为便于描述，设最后一次取的w+1比特时溢出的比特的值都取0；

(2)查表更新计数器

n₀₀←n₀₀+T₀₀[x_L]++T₀₀[x_H]

n₀₁←n₀₁+T₀₁[x_L]+T₀₁[x_H]

n₁₀←n₁₀+T₁₀[x_L]+T₁₀[x_H]

n₁₁←n₁₁+T₁₁[x]+T₁₁[x_H]

End For；

步骤S03，修正频数：

记待检序列的最后一个比特为z_n-1，如果z_n-1＝1，则n₀₁＝n₀₁-1；否则，n₀₀＝n₀₀-1；

步骤S04，计算1比特频数：

记待检序列的最后一个比特为z_n-1，计算比特“0”和“1”的个数n₀和n₁的步骤如下，如果z_n-1＝1，则n₀＝n₀₀+n₁₀，n₁＝n₀₁+n₁₁+1，否则，n₀＝n₀₀+n₁₀+1，n₁＝n₀₁+n₁₁；

步骤S05，计算统计量：

步骤S06，计算P值；

P-value＝igamc(1,V/2)

步骤S07，检验结果判定：

如果P-value≥α，则认为待检序列通过本检验，否则，不通过本检验。