[发明专利]SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端

权利要求书

1.一种SDIO接口测试方法，其特征在于，包括：

对SDIO接口进行初始化；

至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；

按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；

将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果；

所述至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整包括：

按照多个不同的驱动强度对所述采样时钟信号和/或所述输入输出数据进行调整；在每一驱动强度下，按照多个不同延时对所述采样时钟信号进行调整。

2.根据权利要求1所述的SDIO接口测试方法，其特征在于，所述将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果包括：

如果所述采样到的数据与所述预设数据一致，则输出所述采样到的数据，并形成眼图；

如果所述采样到的数据与所述预设数据不一致，则反馈失败。

3.根据权利要求1所述的SDIO接口测试方法，其特征在于，所述至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整之前还包括：

按照标准协议配置所述采样时钟信号的时钟频率。

4.根据权利要求3所述的SDIO接口测试方法，其特征在于，还包括：

根据所述时钟频率配置需要执行测试的SDIO的工作状态，所述工作状态包括所述SDIO接口的速度模式。

5.根据权利要求1所述的SDIO接口测试方法，其特征在于，所述SDIO接口的输入输出数据为以下运行状态下的数据：写数据、读数据以及读命令。

6.一种SDIO接口测试装置，其特征在于，包括：

初始化模块，用于对SDIO接口进行初始化；

调整模块，用于至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；

采样模块，用于按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；

比较模块，用于将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果；所述调整模块按照多个不同的驱动强度对所述采样时钟信号和/或所述输入输出数据进行调整；在每一驱动强度下，按照多个不同延时对所述采样时钟信号进行调整。

7.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1至5中任一项所述SDIO接口测试方法的步骤。

8.一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至5中任一项所述SDIO接口测试方法的步骤。