[发明专利]基于前臂补偿和平面光栅的光谱成像系统有效
| 申请号: | 202011309962.7 | 申请日: | 2020-11-20 |
| 公开(公告)号: | CN112539836B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
| 发明(设计)人: | 李西杰;畅晨光;杨佳婷;武俊强;郝雄波;李勇;冯玉涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 史晓丽 |
| 地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 前臂 补偿 平面 光栅 光谱 成像 系统 | ||
1.基于前臂补偿和平面光栅的光谱成像系统,其特征在于:
包括沿系统光轴方向依次设置的狭缝(1)、前臂补偿透镜组(2)、折叠反射镜(5)、光路复用透镜组(3)和平面光栅(4);
所述前臂补偿透镜组(2)、光路复用透镜组(3)和平面光栅(4)均共光轴设置,所述狭缝(1)偏向系统光轴的一侧设置,所述折叠反射镜(5)偏向系统光轴的另一侧设置,所述折叠反射镜(5)远离系统光轴的一侧还设置有探测器(6);
所述狭缝(1)用于接收物镜获得的光谱,并将该光谱细分、入射至前臂补偿透镜组(2)上;
所述前臂补偿透镜组(2)用于补偿光谱成像系统的离轴像差;
所述光路复用透镜组(3)用于将光谱准直透射至平面光栅(4),再将经平面光栅(4)色散、反射后的光谱透射汇聚至折叠反射镜(5)上;
所述折叠反射镜(5)用于将光路复用透镜组(3)透射汇聚的光谱反射至探测器(6)的靶面上;
所述前臂补偿透镜组(2)由共轴的第一双弯月负透镜(21)和第二双弯月负透镜(22)组成;
所述光路复用透镜组(3)由共轴的第一平凸透镜(31)、第二平凸透镜(32)、第三双弯月负透镜(33)和第一双凸透镜(34)组成;
所述前臂补偿透镜组(2)和光路复用透镜组(3)之间距离为8mm±1mm;
所述光路复用透镜组(3)和平面光栅(4)之间的间距设置为3mm±1mm;
所述第一双弯月负透镜(21)和第二双弯月负透镜(22)之间的距离设置6mm±1mm;
所述第一平凸透镜(31)和第二平凸透镜(32)之间的距离设置2mm±1mm;
所述第二平凸透镜(32)和第三双弯月负透镜(33)之间的距离设置12mm±1mm;
所述第三双弯月负透镜(33)和第一双凸透镜(34)之间的距离设置2mm±1mm;
所述第一双弯月负透镜(21)和第二双弯月负透镜(22)的中心厚度分别为3±1mm、4±1mm;
所述第一平凸透镜(31)、第二平凸透镜(32)、第三双弯月负透镜(33)和第一双凸透镜(34)的中心厚度均为5±1mm;
所述平面光栅(4)的厚度为3±1mm。
2.根据权利要求1所述的基于前臂补偿和平面光栅的光谱成像系统,其特征在于:所述第一双弯月负透镜(21)由H-LAF61A制成,第二双弯月负透镜(22)由H-BAK8制成;
所述第一平凸透镜(31)由H-LAK53A制成,所述第二平凸透镜(32)由H-ZK3A制成,所述第三双弯月负透镜(33)由H-ZF52GT制成,所述第一双凸透镜(34)由H-LAK4L制成。
3.根据权利要求1所述的基于前臂补偿和平面光栅的光谱成像系统,其特征在于:所述折叠反射镜(5)的光轴与系统光轴之间的夹角为45°±15°。
4.根据权利要求3所述的基于前臂补偿和平面光栅的光谱成像系统,其特征在于:所述平面光栅(4)由H-K9L制成。
5.根据权利要求4所述的基于前臂补偿和平面光栅的光谱成像系统,其特征在于:所述折叠反射镜(5)由H-K9L制成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011309962.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





