[发明专利]一种基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测方法及系统在审
申请号: | 202011309279.3 | 申请日: | 2020-11-20 |
公开(公告)号: | CN112418075A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 梁治华;丁志平;朱爽 | 申请(专利权)人: | 北京艾尔思时代科技有限公司;北京工业职业技术学院 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/32;G06T3/40;G06T7/11;G06T7/136;G06T17/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王立普 |
地址: | 100080 北京市海淀区中关*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 高度 模型 玉米 倒伏 区域 检测 方法 系统 | ||
1.一种基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测方法,其特征在于,包括:
通过无人机对玉米种植区域进行拍摄;
对多张无人机拍摄图片进行拼接得到数字正射影像,以及对多张无人机拍摄图片进行三维重建得到数字表面模型;
根据所述数字正射影像确定玉米种植区域的土壤点;
根据所述数字表面模型和所述土壤点确定玉米冠层高度模型;
基于所述玉米冠层高度模型,采用OSTU算法分割提取玉米的倒伏区域。
2.根据权利要求1所述的基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测方法,其特征在于,所述根据所述数字正射影像确定玉米种植区域的土壤点,具体包括:
基于所述数字正射影像,利用数字化方法提取出玉米种植区域;
利用可见光波段差异植被指数,提取所述玉米种植区域中的土壤点。
3.根据权利要求1所述的基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测方法,其特征在于,所述根据所述数字表面模型和所述土壤点确定玉米冠层高度模型,具体包括:
使用25*25窗口最小值滤波土壤点,提取出局域窗口内高程值最低的土壤点,得到土壤高程散点;
对所述土壤高程散点进行最近邻插值得到无植被覆盖的基准高程模型;
利用所述数字表面模型与所述基准高程模型作差,得到玉米冠层高度模型。
4.根据权利要求2所述的基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测方法,其特征在于,所述可见光波段差异植被指数的计算公式如下:
VDVI=(2*ρG-ρB-ρR)/(2*ρG+ρB+ρR)
其中ρG,ρB和ρR分别是绿波段的光谱值、蓝波段的光谱值和红波段的光谱值。
5.一种基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测系统,其特征在于,包括:
拍摄模块,用于通过无人机对玉米种植区域进行拍摄;
拼接及重建模块,用于对多张无人机拍摄图片进行拼接得到数字正射影像,以及对多张无人机拍摄图片进行三维重建得到数字表面模型;
土壤点确定模块,用于根据所述数字正射影像确定玉米种植区域的土壤点;
玉米冠层高度模型确定模块,用于根据所述数字表面模型和所述土壤点确定玉米冠层高度模型;
倒伏区域检测模块,用于基于所述玉米冠层高度模型,采用OSTU算法分割提取玉米的倒伏区域。
6.根据权利要求5所述的基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测系统,其特征在于,所述土壤点确定模块具体包括:
玉米种植区域提取单元,用于基于所述数字正射影像,利用数字化方法提取出玉米种植区域;
土壤点提取单元,用于利用可见光波段差异植被指数,提取所述玉米种植区域中的土壤点。
7.根据权利要求5所述的基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测系统,其特征在于,所述玉米冠层高度模型确定模块具体包括:
土壤高程散点提取单元,用于使用25*25窗口最小值滤波土壤点,提取出局域窗口内高程值最低的土壤点,得到土壤高程散点;
插值单元,用于对所述土壤高程散点进行最近邻插值得到无植被覆盖的基准高程模型;
作差单元,用于利用所述数字表面模型与所述基准高程模型作差,得到玉米冠层高度模型。
8.根据权利要求6所述的基于冠层高度模型的玉米倒伏区域检测系统,其特征在于,所述可见光波段差异植被指数的计算公式如下:
VDVI=(2*ρG-ρB-ρR)/(2*ρG+ρB+ρR)
其中ρG,ρB和ρR分别是绿波段的光谱值、蓝波段的光谱值和红波段的光谱值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京艾尔思时代科技有限公司;北京工业职业技术学院,未经北京艾尔思时代科技有限公司;北京工业职业技术学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011309279.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。