[发明专利]一种辐射归一化方法及其系统有效

专利信息
申请号: 202011306156.4 申请日: 2020-11-20
公开(公告)号: CN112287885B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 丁龙远;张戬;高雅;蔡勇;徐建刚;谈帅 申请(专利权)人: 江苏省测绘研究所
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 北京冬瓜知识产权代理事务所(普通合伙) 11854 代理人: 李佳
地址: 210013 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 辐射 归一化 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种辐射归一化方法,其特征在于,包括如下步骤:

根据具体的影像数据,选择具有相对稳定的光谱特征的地表状态稳定的区域;

对所述地表状态稳定的区域多个时相影像数据进行辐射分布统计,得出每幅所述时相影像的辐射分布特征;

选定其中一个所述时相影像为标准,通过多个时相辐射分布特征值,建立其他所述时相影像向所述标准转换的方程并解算;

所述选择地表状态稳定区域的方法包括:在已有的所述地表状态稳定区域的历史矢量数据的情况下,借助已有的矢量数据,进行编辑修改得到;

通过直接目视判断多个时相影像,从中勾绘出长期稳定不变的地表区域;

先勾绘少量样本,再选取合适的分类器以提取需要的区块;

所述选择地表状态稳定区域的方法包括:对N幅多个时相影像两两求差,得到N-1幅差值图,然后对所述差值图归一化并求和,得到差值累加图,并对所述差值累加图设置一定的阈值,低于所述阈值的标记为地表状态稳定区域W,具体计算过程参见下述公式:

Di=Pi-Pi-1

其中,P代表多时相影像,D代表两幅影像的差值图,S为所有差值图归一化求和的累加图,Sc,r代表累加图第r行第c列的数值,W是累加值取阈值δ时得到的稳定区域标记,即掩膜;

所述辐射分布特征的计算方法包括:

计算影像辐射分布数组:对于整数类型的影像数值根据数值长度计算像素个数,对于非整数类型的影像数值,需要对初始值取整后再做统计,由于设置了掩膜,所述对初始值取整后再做统计的方法只针对所述地表稳定区域内的像素,具体公式如下:

其中,W为掩膜,每个Array数组的上述公式中,元素Arrayk代表着稳定区域内辐射值等于k的像素个数,由于排除了部分变化区域,Array数组所有元素的总和必然小于影像的像素数;

排除非主体值:先确定需要提取的像素占比,根据像素比值选取分布比例较大的主体像素Percentk进行特征运算,生成新的数组Arrayc

计算分布特征值:使用新的数组Arrayc,计算数组特征值。

2.根据权利要求1所述的辐射归一化方法,其特征在于,通过所述辐射分布特征值中的均值mean和标准差std,建立其他所述时相影像P向该标准转换的方程并解算,具体解算过程按照如下方程式进行:

Qi,j=(Pi,j-(meanQ-meanp))(stdQ/stdP)。

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