[发明专利]一种导体材料电阻率测量方法

权利要求书

1.一种导体材料电阻率测量方法，其特征在于，包括以下过程：

1） 标准导体环实验

将标准导体环安装在固定平台上，永磁体通过刚性非磁性直杆与测力计固定连接，并使永磁体与标准导体环沿同中心轴线设置；

控制系统控制可控驱动电机，在可控驱动电机的作用下通过机械升降机构使得测力计和永磁体以一定速度沿中心轴线从起始位置穿过标准导体环运动到终止位置，在整个运动过程中，永磁体在不同点处所受到的力由测力计实时测量并记录，实时测量结果经过计算机处理后在显示屏上显示出来；

2） 待测导体环实验

将标准导体环换成待测导体环，重复上述标准导体环实验过程，测量出不同点处永磁体所受到的力并记录，实时测量结果经过计算机处理后在显示屏上显示出来；其中，所述标准导体环和待测导体环几何尺寸相同；

3） 计算标准导体环实验和待测导体环实验过程中永磁体受力的比值的平均值，再乘以标准导体环的电阻率，即得到待测导体环的电阻率。

2.根据权利要求1所述的导体材料电阻率测量方法，其特征在于，所述标准导体环实验和待测导体环实验过程完全一致，在相同测量条件下，均通过自动或手动操作驱动可控驱动电机，使得永磁体从同一初始位置以一定速度穿过导体环，到达同一终止位置，并由测力计将测量值传输至计算机中。