[发明专利]一种处理器测试方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种处理器测试方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：获取目标处理器的参数信息；利用参数信息，确定目标处理器的架构类型；按照架构类型调整测试参数后，编译配置；在编译配置结束后，对目标处理器进行性能测试。在该方法中，根据架构类型自动调整参数设置，从而屏蔽掉架构差异性，能够在同一个测试工具中对多种不同架构类型的处理器进行性能测试，能够有效提高处理器性能测试的效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种处理器测试方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

服务器中处理器的性能作为计算力的核心，对服务器的总体性能以及响应能力具有重要的影响。因此，对处理器进行性能测试便成为一项必要工作。

处理器存在X86、ARM、MIPS等架构，进行处理器测试时，必须考虑架构之间的差异，从而进行对应性测试。目前，针对处理器进行性能测试仅能按照单一架构进行编译测试，存在测试效率低的问题。例如，在利用与X86对应的测试工具测试完X86架构的处理器之后，若需对ARM架构的处理器进行测试，则需重新更换与ARM架构对应的测试工具，才能测试。

综上所述，如何有效地解决处理器性能测试效率等问题，是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种处理器测试方法、装置、设备及可读存储介质，根据架构类型自动调整参数设置，从而屏蔽掉架构差异性，能够提高处理器性能测试的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种处理器测试方法，包括：

获取目标处理器的参数信息；

利用所述参数信息，确定所述目标处理器的架构类型；

按照所述架构类型调整测试参数后，编译配置；

在编译配置结束后，对所述目标处理器进行性能测试。

优选地，所述获取目标处理器的参数信息，包括：

利用配置接口获取输入数据；

对所述输入数据进行参数化处理，得到所述参数信息。

优选地，对所述目标处理器进行性能测试，包括：

调用操作系统程序接口，并对所述目标处理器进行性能测试。

优选地，利用所述参数信息，确定所述目标处理器的架构类型，包括：

若所述参数信息为架构标识，则直接利用所述架构标识确定所述目标处理器的架构类型；所述架构类型为X86、ARM或MIPS。

优选地，按照所述架构类型调整测试参数后，编译配置，包括：

利用数据仓库集合中与所述架构类型对应的测试数据，调整所述测试参数后，编译配置。

优选地，在所述获取目标处理器的参数信息之前，还包括：

分别在各个不同架构的处理器上，对处理性能测试工具进行编译、调试和运行，得到测试各个所述处理器的最优测试参数组合；

抽象化所述测试参数组合，得到各个所述处理器对应的所述数据仓库集合。

优选地，还包括：

利用所述数据仓库进行优化整合，以便分别运行在各个不同架构的处理器上。

一种处理器测试装置，包括：

配置接口，用于获取目标处理器的参数信息；

架构类型确定模块，用于利用所述参数信息，确定所述目标处理器的架构类型；