[发明专利]一种基于细粒度事件和KPIs分析的异常原因获得方法有效

专利信息
申请号: 202011299021.X 申请日: 2020-11-18
公开(公告)号: CN112363891B 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 李勋;陈立水;闫长江;唐亚哲;焦利彬;王斌 申请(专利权)人: 西安交通大学;中国电子科技集团公司第五十四研究所
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F11/34;G06K9/62
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 安彦彦
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 细粒度 事件 kpis 分析 异常 原因 获得 方法
【权利要求书】:

1.一种基于细粒度事件和KPIs分析的异常原因获得方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:读取细粒度事件数据和原始KPIs数据;

步骤2:对输入的原始KPIs数据进行特征提取获得新的KPIs数据;

步骤3:将原始的KPIs数据进行快速聚类,将相似的KPIs归类成簇,先只对事件序列和簇“中心点”进行初步分析,为后续进一步相关性分析节约处理时间做准备;

步骤4:将细粒度事件数据和步骤3得到的每一类簇中心的特征提取后新的KPIs数据进行相关分析得出结果;相关分析具体包括:这两者是否相关,如果相关,是正相关还是负相关;

步骤5:所有的结果进行关系因果分析;

步骤6:生成异常因果图时,给出相关KPIs类中相似度前N项的KPIs数据之间的关联关系,就可反向进行关系分析生成多因异常因果图;

步骤2的特征提取是通过时间序列提取不同异常波动的特征;

步骤2的特征提取是把原始KPIs数据中孤立点、转折点和异常区域三种不同的异常进行识别和有机的加权组合;

三类异常的提取方法:

(1)捕获孤立点异常方法:给定一个时间序列根据计算预测出t时刻的st的预测值期望值,用pt表示;用st-pt的值表示预测偏差Pe,即Pet=st-pt;如果偏差超出某个固定阈值,异常则被捕获;偏差数据在固定阈值内时,利用相对误差进行优化,相对误差

(2)捕获转折点异常方法;使用核密度估计误差的分布,然后用K-L散度来计算差异TP_e;

(3)捕获异常区域的方法:异常区域是与其他时间序列的平均偏差相比,偏差大于某个固定阈值的时间序列,计算时间序列的平均偏差相对于其他时间序列的大小。

2.根据权利要求1所述的一种基于细粒度事件和KPIs分析的异常原因获得方法,其特征在于,步骤4中,将相关性的判断转化为两样本问题,两样本假设检验的核心是判断两个样本是否来自相同的分布;首先选取事件发生前或者后对应的N段长为k的时序样本数据,用A1表示;样本组A2则是在时间序列上随机选取一系列长度为k的样本数据;样本集为A1并上A2;如果细粒度事件和时间序列相关,则A1和A2的分布不同,否则分布相同。

3.根据权利要求1所述的一种基于细粒度事件和KPIs分析的异常原因获得方法,其特征在于,步骤6中,进行生成异常因果图时,根据快速聚类的结果,首先判断事件序列和聚类结果集合中的“中心点”是否相关,如果相关,则将考察次事件序列和此聚类集合中的所有时间序列进行相关分析;否则,不再考察此聚类结果集合中的数据与事件序列之间的相关性;考虑每个簇中的前N项相关KPIs从而得到不同KPIs之间的波动的关联关系,反向推出导致这样的波动的细粒度的事件,每个细粒度事件和不同的KPIs会得到相关性数值;对于每个细粒度事件本文选择前k个相关度最高的KPIs组成集合,然后再根据KPIs聚类的结果处理;将各自的相关性按照事件关联顺序组织起来,形如,表示:细粒度事件FE发生后使得时间序列数据Si降低的变化进而影响时间序列数据Sj增加的变化;最终对多因进行可能性大小判断生成异常因果图。

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