[发明专利]J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质，涉及数据批量处理领域。该方法包括：步骤1，将待测试芯片的Flash数据文件转换为J750格式的Flash下载数据测试图形文本模板文件；步骤2，通过算法对Flash下载数据测试图形文本模板文件进行处理，并得到Flash数据文件的J750测试图形文本文件；步骤3，将Flash数据文件的J750测试图形文本文件转换为J750二进制测试图形文件；步骤4，对J750二进制测试图形文件进行批量下载。本发明能够解决花费时间长，修改的向量长度有限，计算机死机等问题。

技术领域

本发明涉及数据批量处理技术领域，尤其涉及J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质。

背景技术

通常，同一型号的芯片的量产测试，所有芯片采用的测试程序中的Pattern是相同的。只需要在测试前将测试主程序及Pattern加载一次即可。内嵌Flash芯片的量产常规测试，除了进行芯片的功能测试和直流参数测试之外，依据客户需求，有的需标识每颗芯片的唯一性，以保证芯片信息安全及有效防止信息重叠，这就需要采用特殊的编码规则，将芯片唯一化信息写入芯片中；写入芯片标识唯一性信息主要是工厂码SN及UID码，这些唯一化信息，需要通过测试不同的Pattern写入不同的芯片中，由于这些唯一化信息数据量不大，因此在J750测试系统上，内嵌Flash芯片唯一性信息在量产测试中写入不同芯片的方法，是在测试每个芯片中，实时的将芯片的唯一性信息通过修改测试机Pattern的方法(ModifyPattren)写入不同的芯片中。此类芯片的测试方法是在测试开始前测试系统加载一次测试主程序及Pattern(所有芯片相同部分)，在测试每个芯片中，除测试芯片的功能及参数外，实时修改唯一性信息的Pattern，将唯一性信息写入到芯片中(每个芯片不同部分)。但对于有些内嵌Flash芯片特别是信息安全芯片，需要依据下载协议将每个芯片不同的数据文件的批量Flash数据通过不同的Pattern写入不同的芯片中，此数据量较大，远远大于SN或UID码，在I750测试系统中ModifyPattren的方法不再适用。

泰瑞达J750测试系统提供一个函数ModifyPattren，可以通过VB Code编程在测试中实时修改向量，将唯一的SN或UID下载不同的芯片中。此方法只适用于修改数据量小的向量，因在测试中实时修改，一是花费时间长，二是修改的向量长度有限，修改的数据量越大，花费的时间越长，会造成计算机死机。内嵌Flash芯片要进行批量Flash数据下载，除功能及参数测试(所有芯片相同部分)外需要在测试中将不同的大批量Flash数据的向量，其中每个芯片不同部分，写入不同的芯片，ModifyPattren的方法无法在J750测试系统上对内嵌Flash芯片批量Flash数据进行下载，且数据量过大，容易造成死机。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种基于J750测试系统批量Flash数据下载方法，包括：

步骤1，将待测试芯片的Flash数据文件转换为J750格式的Flash下载数据测试图形文本模板文件；

步骤2，通过算法对所述Flash下载数据测试图形文本模板文件进行处理，并得到所述Flash数据文件的J750测试图形文本文件；

步骤3，将所述Flash数据文件的J750测试图形文本文件转换为J750二进制测试图形文件；

步骤4，对所述J750二进制测试图形文件进行批量下载。

本发明的有益效果是：通过对Flash数据文件进行模板文件的转换，以及通过算法对图形文本的处理，通过二进制的变换等一系列预处理操作可以有效提高数据处理的效率，另外根据格式的转换也可以实现增加向量的修改长度，由于修改长度的增加可以进一步缩短测试的时间，避免计算机死机等问题。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。