[发明专利]一种金属材料挠度、温度连续测试的检测装置及测试方法在审
| 申请号: | 202011289423.1 | 申请日: | 2020-11-17 |
| 公开(公告)号: | CN112461405A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
| 发明(设计)人: | 任钦贵;周贺;李福彪;徐辉;刘健勇 | 申请(专利权)人: | 天津航空机电有限公司 |
| 主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00;G01K5/62;G01B21/32;G01K13/00 |
| 代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
| 地址: | 300308 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 金属材料 挠度 温度 连续 测试 检测 装置 方法 | ||
1.一种双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述装置包括第一传感器(1)、夹具(2)、夹紧机构(3)、水平X方向调节机构(4)、水平Y方向调节机构(5)、第二传感器(6)、机箱(7),其中所述机箱(7)为多层结构,所述夹具(2)、夹紧机构(3)、水平X方向调节装置(4)、水平Y方向调节机构(5)依次安装于机箱(7)中层,所述夹具(2)用于夹持双金属片,所述夹紧机构(3)夹紧夹具(2),所述夹紧机构(3)通过水平X方向调节装置(4)及水平Y方向调节机构(5)实现水平方向的调整,从而调整双金属片的测试点;所述第一传感器(1)位于机箱(7)底层;所述第二传感器(6)安装于机箱(7)顶层;所述第一传感器(1)、第二传感器(6)、双金属片位于同一中心线上。
2.如权利要求1所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述第一传感器(1)为位移传感器,用于测量双金属片的挠度变化,所述第二传感器(6)为温度传感器,用于测量双金属片的温度变化。
3.如权利要求1所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述机箱(7)为三角截面形状的多层结构。
4.如权利要求3所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述机箱(7)上有测试孔(711)、测试孔(721)、测试孔(731),测试孔(711)、测试孔(721)、测试孔(731)分别位于机箱(7)的安装板(71)、安装板(72)、安装板(73)三层,且其位于同一中心线;第一传感器(1)为位移传感器,固定于安装板(71)上,并与安装板(71)上的测试孔(711)配合对应,第二传感器(6)为温度传感器,安装于安装板(73)上,并与测试孔(731)配合对应。
5.如权利要求4所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,测试孔(711)、夹具(2)的安装孔(21)、测试孔(82)、测试孔(721)、测试孔(731)均配合对应。
6.如权利要求5所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述夹具(2)通过夹紧机构(3)固定于板(8)上,板(8)装配于水平X方向调节装置(4)和水平Y方向调节机构(5)上,夹紧手柄(31)位于夹紧机构(3),X方向调节旋钮(41)和Y方向调节旋钮(51)分别位于水平X方向调节装置(4)和水平Y方向调节机构(5)上,夹具(2)可通过滑道(81)进行固定和取出,安装孔(21)位于夹具(2)上。
7.如权利要求6所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述夹具(2)、夹紧机构(3)、水平X方向调节装置(4)、水平Y方向调节机构(5)整体安装于安装板(72)上,夹具(2)上的安装孔(21)与测试孔(721)配合对应。
8.如权利要求1所述的双金属挠度、温度时间连续测试装置,其特征在于,所述测试设备还包括数据采集单元和处理机,所述数据采集单元实时采集双金属片的测试参数,并发送至处理机进行数据处理。
9.一种基于如权利要求1-8任意一项所述测试装置的测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
步骤S1,将双金属片放置于夹具(2)的双金属片安装孔(21)内,此时沿着滑道(101)将夹具(2)和被测零件放置于检测设备内,扳动夹紧手柄(31)将夹具(2)夹紧,
步骤S2,旋转X方向调节旋钮(41)和Y方向调节旋钮(51)将被测件置于第二测试孔(721)大约中心位置,再进行微调将被测件测试点对准激光位移传感器(1)的光斑位置,此时给双金属进行通电,进行测试;
步骤S3,双金属开始发热变形,位移传感器(1)实现对挠度的检测并记录于数据采集器,温度传感器(6)通过第三测试孔(731)实现对双金属片测试点的温度测量,并记录于数据采集器;
步骤S4,测试完成后,扳动夹紧手柄(31),装卡另一个待测件按上述方法进行检测。
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