[发明专利]一种高可靠服务器内存供电治具及其使用方法

说明书

本发明公开了一种高可靠服务器内存供电治具，包括：主控板、测试主板和若干内存负载卡，主控板通过插孔与内存负载卡连接，内存负载卡通过内存插条与测试主板连接；所述主控板用于电源供电、驱动信号引入、信号检测和拉载电路的选择；所述测试主板用于输入电压路径的选择和内存负载卡的承载；所述内存负载卡用于连接电子负载、引入多级输入电压和导出测试电压本发明操作简单，只需要连接好治具以及测试仪器，调整对应拨码开关，输入对应信号，就可测试，不需要焊接，保护精密电阻，利于治具长期使用及保养，成本低，减少人力测试时间，提高工作效率及测试精确度。

技术领域

本发明涉及服务器供电框架领域，特别是涉及一种高可靠服务器内存供电治具及其使用方法。

背景技术

现在的服务器性能要求越来越多，服务器主板已经由2路过渡到4路和8路。对内存的传输速率要求也越来越高。

同时，内存上集成了越来越多的功能供电模块，针对这些电源功能模块，需要更大及更严苛的输入电压设计规格来满足后端芯片的性能需要。现有方案测试内存相关电压规范时，并未关注内存供电输入，仅仅只是量测12V输入电流精度。

为此，需要对输入电源进行全面量测，以保证内存在高速运转时能正常工作。

在测试过程中，需要根据协会及业界规范进行内存电压规范的验证，内存的供电设计中会要求给满足内存电压规范，要考虑模拟内存在最严苛情况下的输入电源设计是否能够满足设计要求。

为了适配Intel Gen4平台对于12V和3.3V供电的需求，并满足内存输入供电的电流电压测试指标能满足设计要求，本文提出一种测试服务器内存供电小的治具及测试系统。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种高可靠服务器内存供电治具及其使用方法，能够适应新Intel Gen4供电框架，对3.3V和12V供电输入的要求，内存对于供电输入的全面验证，解决现有技术中对内存供电监测需要将电子负载进行电烙铁的焊接，导致精密电阻损坏的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种高可靠服务器内存供电治具，其特征在于，包括：

主控板、测试主板和若干内存负载卡，主控板通过插孔与内存负载卡连接，内存负载卡通过内存插条与测试主板连接；

所述主控板用于电源供电、驱动信号引入、信号检测和拉载电路的选择；

所述测试主板用于输入电压路径的选择和内存负载卡的承载；

所述内存负载卡用于连接电子负载、引入多级输入电压和导出测试电压。

进一步，述主控板上设有供电模块、信号驱动模块和控制模块，供电模块给主控板供电，信号驱动模块对驱动信号进行载入，控制模块根据内存负载卡引入的多级输入电压的等级控制与内存负载卡的导通，控制模块与示波器连接。

进一步，所述内存负载卡上设有电子负载接口、电流加载模块、电压引出及信号控制模块和开关，电子负载接口与电子负载连接，多级输入电压通过电流加载模块对电子负载卡进行上电，电压引出及信号控制模块用于测试电压的引出，开关用于导通内存负载卡接收驱动信号。

进一步，所述测试主板上设有对应输入电压等级的拨码与内存插条，所述多级输入电压包括3.3V和12V输入电压，拨码将3.3V和12V输入电压分别连通，内存插条用于连接测试主板与所述内存负载卡。

进一步，所述控制模块包括12V控制模块与3.3V控制模块，控制模块分别与所述信号驱动模块和所述电压引出及信号控制模块相连，驱动信号由驱动模块通过控制模块加载到电压引出及信号控制模块。

一种高可靠服务器内存供电治具的使用方法，包括以下步骤：