[发明专利]谷底检测方法、控制芯片及反激变换器有效
| 申请号: | 202011279598.4 | 申请日: | 2020-11-16 |
| 公开(公告)号: | CN112564491B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
| 发明(设计)人: | 胡建伟;吴伟江;罗九兵;陈新政;胡如波;王立龙;王新成 | 申请(专利权)人: | 上海翰迈电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H02M3/335 | 分类号: | H02M3/335;H02M1/08;G01R19/04 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 徐秋平 |
| 地址: | 200120 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 谷底 检测 方法 控制 芯片 激变 | ||
1.一种谷底检测方法,其特征在于,应用于反激变换器中,所述反激变换器的电感电流在断续工作模式下,其中的原边功率管漏极将产生谐振电压;所述谷底检测方法包括:
获取第一检测周期内的谐振电压稳态值,将不断变化的谐振电压输入第一比较器和第二比较器中,以确定输出的第一比较信号和第二比较信号;分别对所述第一比较信号和所述第二比较信号进行计数;根据计数结果确定所述谐振电压稳态值;将其对应的时刻叠加一延时时段后作为第一时刻,所述第一时刻对应的谐振电压记为第一谐振电压;
所述谐振电压稳态值是指副边电感续流为0时谐振电压波动的平均值;
在第二检测周期内调整所述延时时段,将所述第二检测周期内的谐振电压稳态值对应的时刻叠加所述延时时段后作为第二时刻,将所述第二时刻对应的谐振电压记为第二谐振电压;
比较所述第一谐振电压和所述第二谐振电压的大小关系,根据比较结果对所述延时时段进行再调整,以确定第三检测周期内的第三时刻以及所述第三时刻对应的第三谐振电压;若所述第二谐振电压大于所述第一谐振电压,将所述延时时段减去预设的固定时长作为新的延时时段;将第三检测周期内的谐振电压稳态值对应的时刻叠加新的延时时段后作为所述第三时刻;若所述第二谐振电压小于或等于所述第一谐振电压,将所述延时时段加上至少一个所述固定时长作为新的延时时段;将第三检测周期内的谐振电压稳态值对应的时刻叠加新的延时时段后作为所述第三时刻;
将所述第一谐振电压、第二谐振电压和第三谐振电压作为一分析单元,判断在所述分析单元中所述第一谐振电压是否均小于第二谐振电压和第三谐振电压;
若是,判定所述第一时刻对应的谐振电压为谐振谷底位置,并将所述第一时刻作为所述原边功率管的开启时刻;若否,继续调整延时时段获取新的谐振电压,直到当前开启时刻的谐振电压最小为止;若所述第二谐振电压大于所述第一谐振电压,且所述第三谐振电压小于所述第一谐振电压,将所述延时时段减去至少一个所述固定时长作为新的延时时段,以确定所述第三时刻。
2.根据权利要求1所述的谷底检测方法,其特征在于,所述第一比较器的参考阈值小于第二比较器的参考阈值;所述根据计数结果确定所述谐振电压稳态值的步骤包括:
将所述第一比较信号的电平单独翻转作为第一状态,将所述第一比较信号和第二比较信号的电平同时翻转作为第二状态;
按照时间先后顺序,将所述第二状态出现早于所述第一状态时对应的电压值作为所述谐振电压稳态值。
3.根据权利要求1所述的谷底检测方法,其特征在于:
在重组的分析单元中,将当前检测周期内所述谐振电压稳态值的时刻叠加新的延时时段后对应的时刻作为所述原边功率管的开启时刻。
4.根据权利要求1所述的谷底检测方法,其特征在于,在所述判定所述第一时刻为谐振电压的谷底位置,并作为所述原边功率管的开启时刻的步骤之后,所述谷底检测方法还包括:
当所述原边功率管在第一个谷底位置开启之后,所述原边功率管于后续开启过程中均将所述第一时刻作为所述原边功率管的开启时刻。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海翰迈电子科技有限公司,未经上海翰迈电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011279598.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





