[发明专利]一种用于荧光强度峰检测的方法

权利要求书

1.一种用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）采用荧光免疫分析仪以设定的测试频率f、测试时间t对试剂卡进行测试，按序输出荧光强度值，从而在以输出数值序号i为横坐标、荧光强度值F为纵坐标的坐标系上得到f×t个荧光强度点，得到对应的荧光强度散点图；

（2）峰检测：从荧光强度散点图中找出波峰位置，包括以下步骤：

a.计算荧光强度点的斜率值K_i，将斜率值以其对应的输出数值序号i从小到大作为排列顺序进行排序得到对应的斜率数组；设定斜率数组中斜率值最大值与最小值间数据个数的最小阈值M ；

b.遍历上一步骤所得的斜率数组找出斜率值的最大值和最小值，根据斜率值的最大值、最小值找到其对应的荧光强度数据点对应的输出数值序号，分别记为i_min、i_max；

c.计算i_min、i_max之间的数据个数N=|i_max-i_min|+1；

d.判断所述数据个数N是否大于M：若N≤M，则在最接近的一个步骤所得斜率数组中将i_min、i_max之间的数据点及端点排除，剩余的斜率值组成新的斜率数组，在新的斜率数组中重复进行上述步骤b-d直至满足N＞M；若N＞M，则在最接近的一个步骤所得斜率数组中其对应的输出数值序号在i_min至i_max之间的斜率值中找到斜率值绝对值最小的值，确定该斜率值绝对值最小的值对应的输出数值序号i，该输出数值序号i对应的荧光强度值则为波峰值，其位置则为波峰位置；

所述步骤a中所述斜率值K_i按以下公式计算：

；其中，x为输出数值序号；y为输出数值序号对应的荧光强度值，i=m+1，m+2…, f×t-m；m为预设的已知整数，m≥1；

所述最小阈值M =A×（2m+1），A=希望排除突变点的个数。

2.根据权利要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述m为1或2。

3.根据权利要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述A为3或4。

4.根据权利要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，步骤（1）中所述荧光免疫分析仪采用ADUCM360作为数据采集主芯片，所述设定的测试频率f为500Hz，所述测试时间t为2s。

5.根据权利要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述步骤（2）前还包括将步骤（1）所述荧光强度点进行平滑滤波处理，从而得到处理后的荧光强度散点图。